闭式谐振腔法：高精度微波介质陶瓷介电常数测量

"闭式谐振腔法微波介质陶瓷介电常数测量.pdf" 是一篇关于使用闭式谐振腔技术精确测量微波介质陶瓷及其他中低损耗材料介电常数的研究论文。该方法利用封闭式圆柱形微波谐振腔，通过模式匹配技术解决了加载介质后的腔内电磁场计算问题，建立了谐振频率与材料介电性能的精确关系。 文章指出，相较于传统测量方法，闭式谐振腔法具有更高的测量精度，可达0.1%，并且测量范围广泛，不仅能够准确测量高介电常数的微波介质陶瓷，还适用于低介电常数的材料，如交联聚苯乙烯和聚四氟乙烯。此外，由于闭式谐振腔减少了辐射损耗和金属表面电流损耗，对于低损耗材料的Q值测量尤为精确，损耗角测量的下限可达到10^-6以下。 该测量方法适用的介电常数范围是εr=1~100及以上，损耗角正切tanσ=1×10^-3~1×10^-6，涵盖了多种材料的介电性能测量需求。因此，闭式谐振腔法是一种有效且准确的测量手段，对于微波介质陶瓷和其他中低损耗材料的介电性质研究有着重要的科学价值和应用前景。 关键词包括微波介质陶瓷、闭式谐振腔、介电常数测量，表明该研究主要集中在这些领域，可能涉及电子工程、材料科学、微波技术等多个交叉学科。这篇论文的研究成果对相关领域的科研工作者进行材料性能评估和新材料开发提供了有力的技术支持。