ARM+FPGA架构下的引信信息测试系统设计与高效验证

本文主要探讨了一种基于ARM+FPGA的引信信息测试系统的详细设计与实现。引信信息交联信号因其高速、瞬时和高频率特性，对测试设备提出了极高的实时性和信息处理能力要求。设计目标是构建一个能同时处理多路引信交联信息的系统，包括实时检测、信息发送和反馈功能。 系统的核心架构是围绕高性能的ARM处理器和可编程逻辑FPGA构建的。ARM处理器作为嵌入式核心，负责数据处理和操作界面支持，利用其强大的处理能力和高效的数据传输能力。FPGA则承担了编码、调制和发送信号的任务，通过专用电路实现了对高频瞬时信号的高效处理。它还驱动反馈模块，确保12路特定时序的交联信号的精确输出，满足测试系统对精度的需求。 系统设计注重整体的灵活性和扩展性，考虑到未来的功能升级。软件部分基于Linux内核，提供了比单片机系统更强大的功能和性能，满足设计需求。硬件电路设计采用AltiumDesigner10工具，ARM核心板和FPGA外围接口电路分别布线为8层和6层，以实现高效集成。 在FPGA+ARM架构设计中，FPGA与ARM处理器之间通过特定接口进行连接，如FPGA_INT端用于识别和初始化FPGA外设，而EMIFA端口则支持外部存储。此外，FPGA电路结构包括了FPGA本身、IO电平转换电路以及调试电路，确保了整个系统稳定运行和功能的实现。 通过多次试验，该测试系统成功验证了其有效性与准确性，证明了基于ARM+FPGA的架构在处理引信信息交联信号方面的优势。这不仅提高了测试设备的性能，也适应了微型化智能化设备发展对测试系统的新要求。