jesd22-a113中文
时间: 2023-12-07 08:01:07 浏览: 446
JESD22-A113D.pdf
JESD22-A113是一种用于评估集成电路(IC)耐受电压应力的测试方法。该测试方法通过在IC引脚上施加不同电压水平的电压应力,以验证IC在电压应力条件下的稳定性和可靠性。这种测试方法旨在帮助制造商评估其产品在现实工作环境中可能遇到的电压波动和干扰情况下的表现。
JESD22-A113测试方法涵盖了在正常工作电压范围内加压和保持周期的测试程序,以及在过电压条件下加压和保持周期的测试程序。这些测试可以帮助制造商验证其IC在临界电压情况下的工作性能,并评估IC在过电压条件下的响应和损坏阈值。通过这些测试,制造商可以设计出更稳定和可靠的集成电路,确保其产品在实际应用中具有足够的耐受电压能力。
总之,JESD22-A113是一种用于评估集成电路耐受电压应力的标准测试方法,它可以帮助制造商评估其产品在各种电压条件下的性能和可靠性,从而设计出更加稳定和可靠的集成电路产品。
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