jedec jesd22-a103
时间: 2023-05-16 15:03:45 浏览: 189
JEDEC JESD22-A103E:2015 High Temperature Storage Life(高温储存寿命)- 完
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JEDEC JESD22-A103是一项用于评估电子元器件的芯片连续工作能力的标准测试方法。这项测试方法旨在模拟芯片在长时间稳定运行时的温度变化和电压变化情况。该测试方法要求将被测试芯片放入特定的环境中,在一定时间范围内连续运行,并在此期间进行电性能测试。在测试过程中,芯片将被暴露在不同的温度和电压条件下,以模拟一些常见的应变情况。这种测试方法有助于评估芯片在不同环境下的可靠性和性能,可以指导电子元器件的设计和使用,确保其具有稳定和准确的工作能力。同时,JEDEC JESD22-A103也是电气工业中一个非常常用的标准测试方法,目前已成为行业内的一项重要标准。
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