基于C51单片机开发温控系统,如果已经确定了ad采样频率,如何在软件中对同一个测点多次采样
时间: 2024-03-21 08:41:59 浏览: 98
参考资料-基于单片机与工控软件的多点测温系统的研发.zip
在C51单片机中,可以通过循环结构来实现对同一个测点多次采样。具体步骤如下:
1. 设置AD采样频率,即设置定时器的计数器初值和计数器溢出时间。
2. 在循环中使用AD转换指令对同一个测点进行多次采样。
3. 对采样结果进行平均处理,得到该测点的准确值。
代码示例:
```
unsigned int ad_value = 0; // AD采样结果
unsigned int ad_sum = 0; // 采样结果累加和
unsigned char ad_count = 10; // 采样次数
for (int i = 0; i < ad_count; i++)
{
AD_convert(); // 执行AD转换指令
ad_sum += AD_result; // 将采样结果累加到总和中
}
ad_value = ad_sum / ad_count; // 对采样结果进行平均处理
```
在上述代码中,AD_convert()函数为AD转换指令,AD_result为采样结果,ad_count为采样次数。通过循环结构,对同一个测点进行多次采样后,将采样结果累加到总和中,并最终对采样结果进行平均处理,得到该测点的准确值。
阅读全文