基于stm32的光照强度流程图

基于STM32的光照强度流程图如下：

1. 开始：启动STM32单片机

2. 初始化：进行STM32的外设初始化，包括ADC模块初始化，以及光敏电阻连接引脚的配置

3. 采集：通过ADC模块对光敏电阻的电压进行采集，将光照强度转换为数字信号

4. 转换：将采集到的模拟信号通过ADC转换为数字信号，以便单片机处理

5. 处理：使用单片机内部的计算处理功能，对采集的数字信号进行计算和处理，得出光照强度值

6. 显示：将处理后的光照强度值通过串口或者LCD等外设进行显示

7. 存储（可选）：将光照强度值存储在单片机内部的存储器中，以备将来分析和比较

8. 结束：结束光照强度检测流程

在这个流程图中，STM32单片机通过采集、转换、处理和显示等步骤，实现了对光照强度的检测和显示。值得注意的是，这只是一个简单的光照强度检测流程图，实际项目中可能还涉及到数据处理、通信和存储等其他功能。