请说明在硬件调试和测试中，JTAG接口是如何实现边界扫描技术的，并提供一个测试逻辑簇的实例进行详细说明。

边界扫描技术是IEEE 1149.1标准的核心内容，它通过在集成电路芯片的边界上集成一个扫描链，允许测试数据流经IC的引脚，而不需要物理接触。这种技术使得无需复杂的物理探针就可以进行功能测试和互连测试，极大地简化了测试过程。

参考资源链接：[IEEE 1149.1 JTAG接口详解：入门与应用](https://wenku.csdn.net/doc/89fiktbr1t?spm=1055.2569.3001.10343)

在硬件调试和测试中，JTAG接口利用边界扫描寄存器和一系列专用信号，如测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)，来控制边界扫描链。操作时，首先通过TMS和TCK对测试访问端口(TAP)进行配置，以便将IC置于边界扫描模式。然后，可以通过TDI和TDO在扫描链中移动数据，实现对特定逻辑簇的访问和测试。

以测试一个简单的逻辑簇为例，假设我们有一个由三个触发器(F1, F2, F3)组成的序列，我们想要测试这个逻辑簇的功能。我们可以按照以下步骤进行：

1. 将IC置于边界扫描模式。
2. 通过TDI串行加载边界扫描寄存器，设置特定的测试向量。
3. 将测试向量应用到逻辑簇的输入，例如，让F1接收高电平，F2和F3接收低电平。
4. 触发设备运行一个周期。
5. 通过边界扫描链捕获输出结果，即F1的输出应该连接到F2，F2的输出连接到F3。
6. 将捕获的结果通过TDO移出扫描链，并在测试设备上进行分析。

通过这种方式，我们可以验证逻辑簇的正确功能，确保数据在逻辑簇内部正确流动。如果输出结果与预期不符，那么就表明逻辑簇中存在故障，需要进一步诊断问题所在。

为了更深入地理解JTAG边界扫描技术的应用，推荐参考《IEEE 1149.1 JTAG接口详解：入门与应用》一书。这本书详细介绍了JTAG标准的基础知识、边界扫描的工作原理、以及如何进行具体的测试操作。通过阅读该书籍，可以帮助工程师和技术人员掌握JTAG在实际项目中的应用，从而有效地进行系统级测试和故障排除。

参考资源链接：[IEEE 1149.1 JTAG接口详解：入门与应用](https://wenku.csdn.net/doc/89fiktbr1t?spm=1055.2569.3001.10343)