ARM处理器BST测试案例：开放源码JTAG边界扫描

资源摘要信息:"本资源为JTAG边界扫描的实用例子和源程序，特别是针对ARM处理器的BST测试。JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。BST（Boundary Scan Test）是一种基于JTAG标准的测试技术，主要应用于电路板级的测试，能够对芯片的输入输出引脚进行控制和观察。这个资源对于进行硬件测试和调试的工程师来说是非常实用的。" 知识点详细解释如下： 1.JTAG定义和用途： JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。它允许测试工程师通过一组标准化的测试针脚对芯片内部的逻辑进行测试，无需对芯片的内部逻辑设计有深入理解。JTAG接口也常用于编程和调试微处理器和其他可编程逻辑设备。 2.边界扫描（BST）技术： BST是一种基于JTAG标准的测试技术，主要用于电路板级的测试。BST技术可以让工程师通过电路板上的边界扫描单元（Boundary-Scan Cells，BSCs）来控制和观察芯片的输入输出引脚。这样就可以在不接触电路板的情况下，对电路板上的各个组件进行测试，提高了测试的便利性和效率。 3.JTAG接口和引脚： JTAG接口通常有五根信号线，包括TDI（Test Data In，测试数据输入）、TDO（Test Data Out，测试数据输出）、TCK（Test Clock，测试时钟）、TMS（Test Mode Select，测试模式选择）和TRST（Test Reset，测试复位）。这些信号线共同构成了JTAG接口，用于实现对芯片或电路板的测试和调试。 4.JTAG在ARM处理器中的应用： ARM处理器广泛应用于各种嵌入式系统中，JTAG技术在ARM处理器的开发和测试中扮演了重要的角色。通过JTAG接口，工程师可以实现对ARM处理器内部逻辑的访问，进行代码的下载和调试，以及对其它外设进行边界扫描测试。 5.资源内容概述： 提供的资源“open-jtag.zip”包含了针对ARM处理器的JTAG边界扫描测试的实例和源代码，这对于嵌入式系统开发人员和硬件测试工程师来说是非常宝贵的。资源中的实例和源代码可以帮助他们理解和应用JTAG和BST技术，从而更好地进行硬件测试和调试工作。 6.如何使用JTAG工具： 使用JTAG工具进行测试，首先需要准备JTAG接口的硬件连接，然后通过JTAG软件工具将测试程序下载到目标设备上。测试时，JTAG工具通过TMS和TCK信号控制测试模式和时钟，通过TDI输入测试数据，通过TDO输出测试结果。工程师可以根据测试结果对电路板进行故障分析和定位。 7.JTAG的优势和限制： JTAG技术的优点在于它能够提供对芯片内部和引脚级的访问，而不受芯片封装的限制。它允许进行非破坏性测试，且不需要额外的测试点。然而，JTAG也有其局限性，比如它不能完全替代功能测试，且对于某些高频信号或模拟信号的测试能力有限。 通过以上知识点的详细解释，可以清晰地了解JTAG扫描技术以及它在边界扫描测试中的应用，特别是在ARM处理器上的应用。这对于从事硬件开发和测试的工程师来说具有很高的实用价值。