在设计静态CMOS组合逻辑电路时，应如何应对阈值损失和衬底效应对电路性能的潜在负面影响？

在设计静态CMOS组合逻辑电路时，阈值损失和衬底效应是两个不可忽视的因素，它们都会影响电路的性能。针对阈值损失，设计者可以采取以下策略：使用高阈值电压晶体管以保持较低的静态功耗，同时在关键路径上使用低阈值电压晶体管以提高性能；适当增加晶体管尺寸以降低晶体管的内阻，从而减少由于阈值损失带来的速度延迟；在电路设计时考虑电压降，确保逻辑门的输出高电平足够接近VDD，以避免逻辑“0”被错误判定为逻辑“1”。

参考资源链接：[清华大学微电子所《数字集成电路》- 组合逻辑讲解](https://wenku.csdn.net/doc/5gp24wkn7u?spm=1055.2569.3001.10343)

对于衬底效应，设计者可以通过调整晶体管的布局来最小化其影响。例如，在晶体管的源极与衬底之间引入一个衬底接触，可以减少源极与衬底之间的电势差，从而减少阈值电压的变化。此外，设计者还可以通过合理设计晶体管的长宽比，利用晶体管的宽长比来控制阈值电压，以此来抵消衬底效应。

周润德教授在《清华大学微电子所《数字集成电路》- 组合逻辑讲解》课件中提到，使用棍棒图可以辅助理解晶体管布局，有助于设计者在设计阶段就识别可能出现的阈值损失和衬底效应问题，并采取相应措施进行优化。例如，通过棍棒图，设计者可以直观地观察到晶体管的相对位置关系，从而更容易地判断哪些晶体管可能会受到衬底效应的影响，并据此进行调整。

在设计过程中，设计者还应密切关注工艺变化对晶体管特性的影响，尤其是在集成电路工艺向更小尺寸发展的趋势下，这些效应的影响可能会变得更加明显。因此，设计时还需考虑工艺容差，确保电路即使在最差情况下也能正常工作。

综合以上措施，结合周润德教授的课件内容，设计者在设计静态CMOS组合逻辑电路时，可以有效地避免阈值损失和衬底效应带来的负面影响，从而保证电路性能的稳定和可靠性。

参考资源链接：[清华大学微电子所《数字集成电路》- 组合逻辑讲解](https://wenku.csdn.net/doc/5gp24wkn7u?spm=1055.2569.3001.10343)