POGO PIN针头是直径2.5mm平面，压头也是直径2.5mm平面，下压接触电阻值大，是什么原因

POGO PIN针头和压头的接触面积较大，如果它们之间的接触电阻值较大，可能有以下几个原因：

1. **表面清洁度不高**：尘埃、污垢或其他异物可能导致导电不良，增加电阻。
2. **材料质量**：如果使用的金属材料纯度不够或者镀层不良，会降低导电性能。
3. **压力不足**：压头没有足够的力量使得pin头完全接触到电路板，导致接触点不充分。
4. **氧化问题**：长期暴露在空气中可能会造成pin头或压头上氧化，影响导电性。
5. **pin头形状或磨损**：pin头形状不符合设计规格，或者使用时间过长导致磨损，也会影响接触电阻。

要解决这个问题，可以尝试清理pin头和压头，确保良好的接触环境，必要时调整下压力，或者更换新的高质量pin头。同时检查设备的操作规范是否到位。

相关问题

为什么用半导体WAT pogo pin测试定值电阻数值异常，但测试wafer数值正常？

这种情况可能是由于半导体WAT pogo pin测试时的接触不良或者接触阻抗过高导致的。WAT pogo pin测试时，由于测试点很小，测试针的接触面积也很小，如果测试针的表面不干净或者测试针的接触力不够，就容易出现接触不良的情况，从而导致测试结果异常。此外，如果测试针的接触阻抗过高，也会影响测试结果。而在测试wafer时，由于测试针可以覆盖整个晶圆表面，接触面积较大，所以接触不良的可能性就较小。因此，为了避免这种情况发生，需要保证测试针表面干净，并且测试针的接触力和接触阻抗都要满足要求。

为什么用鳄鱼夹夹住半导体WAT pogo pin测试定值电阻数值异常，但测试wafer数值正常？

使用鳄鱼夹夹住半导体WAT pogo pin测试时，可能会对测试结果产生干扰，从而导致定值电阻数值异常。鳄鱼夹在夹住测试针的同时也会夹住测试针周围的电路板或电线等物体，从而改变了测试针接触点的电学环境。这种干扰可能会导致测试针与被测元件之间的电容或电感发生变化，进而影响测试结果。而在测试wafer时，测试针直接接触晶圆的表面，鳄鱼夹没有机会干扰测试结果。因此，为了避免使用鳄鱼夹对测试结果产生干扰，应尽量避免使用鳄鱼夹，而是直接使用专业的测试夹具或测试架进行测试。