dft test point

DFT test point（设计测试点）是用于测试集成电路（IC）中设计故障测试的一个关键概念。使用test points（测试点）可以实现多种不同的目的。例如，可以使用test points来减少atpg pattern（自动测试程序生成模式）的数量，从而降低测试的复杂性和成本。
此外，test points也可以用来提高random pattern（随机模式）对故障的测试覆盖率。通过分析和插入test points，可以增加测试模式的质量和有效性，从而提高对特定故障的检测能力。
尽管test points的主要目的是减少atpg pattern的数量，从而可能改善测试覆盖率，但其影响相对较小。使用test points来优化测试设计是一个复杂的过程，需要综合考虑多个因素，并根据具体的设计和测试需求来选择合适的策略。<span class="em">1</span><span class="em">2</span><span class="em">3</span>
#### 引用[.reference_title]
- *1* *2* *3* [第五章：Test Point Analysis and Insertion](https://blog.csdn.net/weixin_44954910/article/details/127738686)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 100%"]
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