gd32f470 adc校准

GD32F470系列MCU的ADC（模拟数字转换器）校准是一个重要步骤，因为精确的A/D转换结果依赖于其内部精度。以下是GD32F470 ADC的基本校准过程：

1. **初始化**：首先，你需要配置ADC，包括选择适当的扫描模式、参考电压源、采样时间等。确保你已启用并设置好ADC。

2. **启动序列**：在开始测量之前，通常需要通过`ADC_Cmd`函数开启ADC，以便进行后续操作。

3. **单次转换**：如果你想进行单次校准，可以先进行一次不连接外部参考电压的测量，获取内部基准电压的ADC值。

4. **校准模式**：进入ADC校准模式通常需要用到特定寄存器，如`ADC_CR2`中的`ADON`位，以及可能的`ADC_CR1`中的`CAL`位。这将启动一个自校准周期，期间ADC会测量其自身的电压参考。

5. **等待校准完成**：ADC校准完成后，状态标志寄存器`ADC_ISR`的`CAIF`位会被置位。这时你可以检查这个标志确认校准是否成功。

6. **读取校准数据**：一旦校准完成，你可以在`ADC_CALFACT_X`寄存器中找到校准因子，用于补偿ADC的内部偏移和增益误差。

7. **应用校准**：将校准因子应用于后续的测量，调整转换结果以获得更准确的结果。