在应用Tessent DFT进行系统级芯片测试时，如何利用系统模式和模式重定向优化测试流程，并确保测试的全面性和高效性？

系统模式和模式重定向是Tessent DFT中提高测试流程效率和覆盖率的关键技术。为了帮助你深入理解并运用这些技术，推荐阅读《Tessent DFT学习：功能与应用详解》。这本书详细介绍了如何通过系统模式来控制测试范围和复杂度，以及如何通过模式重定向来提高测试的灵活性和效率。

参考资源链接：[Tessent DFT学习：功能与应用详解](https://wenku.csdn.net/doc/794yumwmp1?spm=1055.2569.3001.10343)

在Tessent DFT中，系统模式定义了不同的测试环境和状态，它允许用户根据需要切换到特定的测试配置。例如，通过设置模式为Setup，可以指定芯片在测试准备阶段的行为，从而确保测试的准备工作能够顺利完成。此外，系统模式还能帮助测试工程师区分不同的测试场景，如生产测试、故障诊断和产量分析等，以适应芯片测试的多个阶段。
模式重定向是一种高级功能，它允许测试向量在不同的测试级别间重用。例如，在核心级别生成的ATPG向量，可以被重定向到芯片级别的测试中，这样可以减少为每个芯片级别设计新测试向量的需求，从而显著提高测试效率。在实现模式重定向时，需要确保测试向量与芯片的实际物理结构相匹配，因此对测试硬件结构和封装核心（wrapped cores）的理解至关重要。
掌握了系统模式和模式重定向的使用后，你可以更灵活地管理测试流程，同时确保测试的全面性。通过合理地设计测试流程，可以有效地缩短测试周期，降低测试成本，并最终提高芯片的良品率和市场竞争力。为了在Tessent DFT领域进一步深化你的知识和技能，建议继续深入学习《Tessent DFT学习：功能与应用详解》中关于故障诊断、内部/外部模式、On-Chip Clock Controller等内容。

参考资源链接：[Tessent DFT学习：功能与应用详解](https://wenku.csdn.net/doc/794yumwmp1?spm=1055.2569.3001.10343)