在使用Tessent DFT进行IC设计时,如何通过层次化设计和模式重定向提高测试覆盖率和效率?
时间: 2024-11-02 09:12:15 浏览: 70
为了最大化Tessent DFT在IC设计中的效能,理解层次化设计和模式重定向的概念至关重要。《Tessent DFT学习:功能与应用详解》一书详细介绍了如何通过这些高级特性提升测试效率和覆盖率。
参考资源链接:[Tessent DFT学习:功能与应用详解](https://wenku.csdn.net/doc/794yumwmp1?spm=1055.2569.3001.10343)
层次化设计允许设计者将复杂的芯片设计分解为更小、更易管理的模块,这不仅有助于简化测试过程,还可以通过重用测试模式来优化测试资源的利用。层次化设计的核心在于识别可复用的核心模块,并为这些模块生成ATPG向量,使其能够在更高级别的芯片集成测试中重用。
模式重定向是层次化设计中的一项关键技术,它允许在核心级别生成的ATPG向量能够在芯片级别得到复用。例如,在多核处理器或GPU设计中,核心模块的测试模式可以被重定向到整个芯片测试中,从而减少重复测试的工作量,并确保每个核心都能在完整的芯片环境中得到充分测试。
在实施模式重定向时,需要考虑核心与芯片之间的连接和通信机制,确保测试信号的正确路由和时钟控制。OCC(On-Chip Clock Controller)作为模式重定向过程中的关键组件,负责在外部模式测试时监控和控制时钟信号,从而保证时钟信号的准确性和测试的有效性。
为了实现高效的层次化设计和模式重定向,设计者需要精通Tessent DFT中的ICL(Instrument Connectivity Language),它提供了一种描述测试元件及其连接关系的方式,有助于构建和管理JTAG测试网络,确保测试信号的传输和处理。
综上所述,通过熟练运用Tessent DFT的层次化设计和模式重定向功能,设计者可以显著提高测试覆盖率和效率,减少资源开销,并最终实现更加可靠和高效的芯片测试。如果希望深入理解这些概念,并在实际项目中灵活运用,强烈建议参考《Tessent DFT学习:功能与应用详解》一书,它将为你提供全面的理论支持和实践指导。
参考资源链接:[Tessent DFT学习:功能与应用详解](https://wenku.csdn.net/doc/794yumwmp1?spm=1055.2569.3001.10343)
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