AC SCAN和DC SCAN 的IO接口 详细

AC SCAN和DC SCAN都需要与被测试芯片的IO接口进行连接，以实现对芯片的信号输入和输出的控制与观测。以下是它们的IO接口的详细说明：

1. AC SCAN的IO接口：
AC SCAN通常使用边沿触发的扫描链（Scan Chain）作为与芯片连接的IO接口。扫描链是一种串联的寄存器链，通过扫描链可以对芯片内部的寄存器和逻辑单元进行访问和控制。其具体特点包括：
- 输入信号：AC SCAN的输入信号通过扫描链输入到芯片内部。这些输入信号可以是测试模式产生器生成的扫描数据，也可以是外部信号源提供的测试数据。
- 输出信号：芯片内部逻辑单元的输出信号可以通过扫描链输出到外部，以便观测和分析。这些输出信号可以连接到观测点或测试设备进行信号采集和分析。
- 控制信号：控制扫描链工作的时钟和控制信号，用于控制扫描链的移位操作和数据加载操作。

2. DC SCAN的IO接口：
DC SCAN通常使用专用的测试引脚作为与芯片连接的IO接口。这些引脚可以用于施加直流电压或电流，以测试芯片的电气特性和延迟故障。其具体特点包括：
- 输入信号：DC SCAN的输入信号可以是直流电压或电流，通过测试引脚输入到芯片内部。这些输入信号可以是测试设备产生的电信号，也可以是外部信号源提供的电信号。
- 输出信号：芯片内部逻辑单元的输出信号可以通过测试引脚输出到外部，以便观测和分析。这些输出信号可以连接到观测点或测试设备进行信号采集和分析。
- 控制信号：控制测试引脚工作的时钟和控制信号，用于控制输入信号的切换和输出信号的采样。

需要注意的是，AC SCAN和DC SCAN的IO接口需要与测试设备（如测试仪器、探针卡）进行连接，并根据具体的测试需求进行配置和设置。具体的接口定义和连接方式可能会根据芯片厂商的设计和规范略有差异。