在STM32G4微控制器的应用设计中，如何综合运用硬件配置和软件策略来提高ADC的测量精度？请提供相关参考文档和具体实施步骤。

要提升STM32G4微控制器上ADC的测量精度，首先需要深入理解其硬件特性，并结合精心设计的软件策略。AN5346文档《STM32G4系列ADC优化指南：提高精度的硬件与软件设计》是这一领域的宝贵资源，它详细介绍了如何优化STM32G4系列微控制器的ADC性能。

参考资源链接：[STM32G4系列ADC优化指南：提高精度的硬件与软件设计](https://wenku.csdn.net/doc/1fuyj3jurq?spm=1055.2569.3001.10343)

硬件配置方面，首先应该确保ADC的参考电压稳定，同时选择合适的采样频率，通常应高于信号奈奎斯特频率的两倍以避免混叠。此外，应选择与应用场景相匹配的分辨率和转换模式，例如在需要高精度时选择逐次逼近模式。

软件策略方面，开发者可以使用DMA（直接内存访问）来提高数据传输效率，减少CPU负载，并确保数据采集的实时性。同时，利用高分辨率定时器可以实现精确的采样控制。在软件编程中，还可以实现ADC校准和补偿算法，比如温度补偿、线性化处理和滤波算法，以进一步提高精度。

具体的实施步骤包括：
1. 根据信号特性选择合适的采样频率和分辨率。
2. 使用STM32CubeMX配置ADC和相关外设，包括时钟树配置。
3. 利用硬件特性，如内置的低通滤波器，来抑制信号噪声。
4. 开发DMA通道来处理数据传输，减少CPU干预，提升系统响应。
5. 应用软件校准技术来调整测量结果，修正非线性误差。
6. 采用滤波算法处理数据，如滑动平均滤波，减少随机噪声影响。
7. 利用高分辨率定时器来触发ADC转换，确保采集时机的准确性。

通过上述措施，可以有效地提升STM32G4微控制器ADC的测量精度，使其在各种高性能应用中表现更加出色。对于希望进一步深入学习和实践的开发者，AN5346文档提供了全面的指导和建议，值得详细研读。

参考资源链接：[STM32G4系列ADC优化指南：提高精度的硬件与软件设计](https://wenku.csdn.net/doc/1fuyj3jurq?spm=1055.2569.3001.10343)