FPGA芯片自测bist

FPGA（Field-Programmable Gate Array）是一种可编程逻辑器件，它允许用户在硬件上配置逻辑电路。BIST（ Built-In Self-Test）即集成在系统内的自测试功能，用于验证FPGA内部的逻辑单元是否正常工作。

在FPGA芯片的自测BIST过程中，通常包括以下几个步骤：

1. **启动序列**：首先，会有一组预定义的启动序列来唤醒并初始化BIST模块。

2. **测试模式设置**：进入专门的BIST模式，使得外部对其他部分的操作不会影响到正在执行的测试。

3. **测试项目**：通过一组预编程的测试向量，逐个检查FPGA的不同功能块，如查找门、触发器、寄存器等。

4. **错误检测**：在执行完测试后，比较实际结果和预期的结果，如果发现差异则视为故障。

5. **错误报告**：将检测到的故障信息存储在一个或多个寄存器中，供调试和修复使用。

6. **自恢复**：一些FPGA设计支持自恢复功能，能够尝试纠正轻微错误或重启受影响的部分。