系统级芯片测试原理与架构

"VLSI测试原理与架构" 《VLSI测试原理与架构》是一本深入探讨大规模集成电路（VLSI）测试技术的经典著作，针对当前电子设计和测试工程师面临的复杂挑战提供了详尽的解决方案。在单片系统（SoC）日益普及且工艺技术不断微缩的时代，确保整个系统的正确行为变得至关重要。本书涵盖了从数字电路到混合信号，从内存到FPGA，以及RF测试等多元化系统的测试方法。 书中详细介绍了故障模拟（Fault Simulation），自动测试模式生成（Automatic Test Pattern Generation, ATPG），内存测试，设计用于测试（Design for Testability, DFT）以及内置自测（Built-In Self Test, BIST）等多个关键领域。故障模拟是预测集成电路在不同故障条件下行为的工具，ATPG则用于生成能够检测这些故障的测试模式。内存测试是验证存储单元功能完整性的过程，而DFT技术则通过在设计阶段考虑可测试性，简化了后期的测试流程。 BIST是集成在芯片内部的自测试机制，特别适用于高速测试和软错误防护。书中对BIST的最新进展进行了阐述，包括如何实现逻辑BIST以进行高速测试，以及如何利用测试压缩技术减少测试数据量，提高测试效率。此外，对于DRAM的BIST、FPGA测试和射频（RF）测试等特殊领域的测试策略也有深入讲解。 本书不仅适合作为大学教材，引导学生系统学习故障模拟、ATPG、DFT和BIST的基础知识，同时也是一本全面的测试工程师指南，帮助他们掌握最新的DFT技术，应对软错误防护、高速测试等前沿问题。作者Michel Renovell在信息、机器人和微电子实验室的专业背景，确保了内容的权威性和实用性。 《VLSI测试原理与架构》是一部集基础理论与最新实践于一体的参考书，对于想要深入了解VLSI测试领域的读者来说，无论是初学者还是经验丰富的工程师，都将从中受益匪浅。它提供了一个广泛的学科知识框架，并深入探讨了当前VLSI测试所面临的挑战和创新解决方案。