VLSI测试原理与设计：面向可测试性

"《VLSI测试原理与可测试架构设计》是一本深度探讨VLSI电路测试技术的专业书籍，尤其在当前大规模系统集成到单片系统（SoC）以及采用不断缩小的工艺技术背景下，对于确保整个系统的正确行为至关重要。该书涵盖了VLSI测试领域的基础知识，从故障模拟、自适应测试规划（ATPG）、内存测试、内置测试（DFT）和边界扫描测试（BIST）等基础概念深入剖析。 书中不仅作为教学教材，介绍了基础的故障仿真技术，还针对现代电子工程师的需求，提供了对软错误防护的最新DFT发展、逻辑内置自测（BIST）的高速测试策略、DRAM和内存测试、FPGA测试、射频测试等多个方面的全面指南。作者米歇尔·雷诺威尔来自信息、机器人学和微电子实验室，他的专业见解使得本书成为工程师们理解和掌握VLSI测试前沿技术的宝贵资源。 通过阅读这本书，读者不仅可以学习传统的测试方法，还能了解到如何利用最新的技术手段提升测试效率和系统的可靠性。无论是在教学还是在实际工作中，这本书都是深入理解并应对VLSI复杂性和异质性系统挑战的重要参考。"