超大规模集成电路测试：设计可测性原理与架构

"《VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability》是一本针对超大规模集成电路（VLSI）测试原理和结构的经典著作，适合可测性设计工程师以及在读研究生和博士生阅读。本书深入探讨了VLSI测试技术在面对系统级集成、工艺持续缩小等挑战时的重要性和复杂性，旨在提供全面而深入的测试知识，涵盖了从基础到最新、最先进的概念。" 正文: 在电子设计领域，超大规模集成电路（VLSI）测试的重要性不言而喻。随着系统级芯片（SoC）的发展，单一芯片上集成了复杂的数字、混合信号和内存组件，确保整个系统的正确行为变得至关重要。《VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability》这本书正是为了解决这一问题，它为读者提供了VLSI测试领域的广泛知识，包括基本的故障模拟、自动测试向量生成（ATPG）、内存测试、可测性设计（DFT）以及内置自测试（BIST）等关键概念。 书中详细介绍了故障模拟，这是一种预测集成电路在潜在故障情况下行为的技术，有助于设计者评估其设计的故障覆盖率。ATPG是VLSI测试中的重要工具，能够生成用于检测电路故障的测试向量。内存测试部分则讨论了如何对存储器进行有效的测试，确保其在系统中的可靠运行。 DFT是提高集成电路测试效率的关键，通过在设计阶段考虑测试性，可以降低后期测试成本。书中详细阐述了DFT的基础和最新的进展，包括软错误防护、逻辑BIST、高速测试策略等。逻辑BIST允许芯片在正常工作速度下进行自我测试，提高了测试效率和准确性。 此外，本书还涵盖了内存BIST、测试压缩技术、MEMS（微机电系统）测试、FPGA（现场可编程门阵列）测试以及射频（RF）测试等领域。这些章节不仅适用于教学，也为工程师提供了实用的指导，帮助他们掌握最新的DFT技术，以应对日益复杂的系统测试需求。 《VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability》是VLSI测试领域的权威参考，无论对于学术研究还是工业实践，都具有极高的价值。通过深入学习这本书，读者可以系统地理解VLSI测试的各个方面，并能应用这些知识解决实际工程中的问题，推动集成电路设计和测试技术的进一步发展。