keil5擦除stm32程序

在Keil uVision 5中擦除STM32程序通常涉及到Flash的编程过程。步骤如下：

1. **打开项目**: 打开已经配置好的Keil工程文件 (.uvprojx)。

2. **选择设备**: 确保设备连接到计算机并正确识别。在工具栏的"Target"选项里，选择你的STM32型号。

3. **进入调试视图**: 转到"View"菜单，然后选择"Debug Window"，在弹出的窗口中确认设置正确，特别是Flash选项。

4. **清除闪存**: 在"Project"菜单下，找到并点击"Program Flash Memory" 或 "Erase All"（如果可用）。这会抹除STM32的整个Flash内容，包括已有的程序。

5. **加载新程序**: 清除完毕后，可以加载新的程序二进制文件 (.hex、.bin等)，然后再次尝试编程以刷新新的代码。

**注意事项**:
- 操作前记得备份重要数据，因为擦除操作不可逆。
- 如果没有正确连接目标板，Keil可能无法擦除或加载程序。

相关问题

keil uvision怎么擦除32f103

Keil uVision是一款流行的开发工具，用于在ARM Cortex-M系列微控制器上进行嵌入式软件开发。擦除STM32F103系列微控制器是通过使用Keil uVision中集成的ST-Link调试器来实现的。

要擦除STM32F103微控制器，首先需要连接ST-Link调试器与开发板上的调试接口。然后，打开Keil uVision，创建一个新的工程或打开一个现有的工程。

在Keil uVision的主界面上，选择“调试器”选项卡，然后选择“ST-Link”作为调试器。

接下来，在“目标”选项卡中，选择“ST-Link Debugger”作为目标设备。

在代码编辑器中，选择“Flash”选项卡，在“操作”下拉菜单中选择“擦除片上Flash”。

然后，点击“开始”或按下快捷键Ctrl+Shift+F5，即可开始擦除STM32F103微控制器的Flash存储器。

在擦除过程完成后，您可以重新编译和烧录您的程序，或者配置其他相关设置。

需要注意的是，在进行任何Flash操作之前，确保您连接的调试器与目标设备正确连接，并且将目标设备的电源供应正常。

通过以上步骤，您可以在Keil uVision中擦除STM32F103微控制器的Flash存储器。

芯片HTOL实验程序例子keil STM32

下面是一个基于Keil和STM32的HTOL芯片实验程序示例：

#include "stm32f10x.h"
#include "stm32f10x_flash.h"

#define FLASH_PAGE_SIZE    ((uint16_t)0x400)
#define FLASH_BANK1_START_ADDR    ((uint32_t)0x08000000)
#define FLASH_BANK2_START_ADDR    ((uint32_t)0x08040000)

#define HTOL_TEST_ADDR    FLASH_BANK1_START_ADDR

#define HTOL_TEST_DATA_SIZE    1024    // HTOL测试数据大小，单位为字节
#define HTOL_TEST_PATTERN    0xAA    // HTOL测试数据模式

uint8_t htol_test_data[HTOL_TEST_DATA_SIZE];

void htol_init_test_data(void)
{
    uint32_t i;
    for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE; i++)
    {
        htol_test_data[i] = HTOL_TEST_PATTERN;
    }
}

int htol_test(void)
{
    uint32_t i, j;
    uint16_t page_num;
    uint32_t start_addr;
    FLASH_Status status;

    // 初始化测试数据
    htol_init_test_data();

    // 擦除测试区域
    FLASH_Unlock();
    FLASH_ClearFlag(FLASH_FLAG_BSY | FLASH_FLAG_EOP | FLASH_FLAG_PGERR | FLASH_FLAG_WRPRTERR);
    status = FLASH_ErasePage(HTOL_TEST_ADDR);
    if (status != FLASH_COMPLETE)
    {
        FLASH_Lock();
        return -1;
    }

    // 写入测试数据
    start_addr = HTOL_TEST_ADDR;
    for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE / FLASH_PAGE_SIZE; i++)
    {
        page_num = (start_addr - FLASH_BANK1_START_ADDR) / FLASH_PAGE_SIZE;
        if (FLASH_ErasePage(start_addr) != FLASH_COMPLETE)
        {
            FLASH_Lock();
            return -1;
        }
        for (j = 0; j < FLASH_PAGE_SIZE; j += 2)
        {
            if (FLASH_ProgramHalfWord(start_addr + j, *((uint16_t *)(htol_test_data + i * FLASH_PAGE_SIZE + j))) != FLASH_COMPLETE)
            {
                FLASH_Lock();
                return -1;
            }
        }
        start_addr += FLASH_PAGE_SIZE;
    }

    // 读出测试数据
    start_addr = HTOL_TEST_ADDR;
    for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE / FLASH_PAGE_SIZE; i++)
    {
        for (j = 0; j < FLASH_PAGE_SIZE; j += 2)
        {
            if (*((uint16_t *)(start_addr + j)) != *((uint16_t *)(htol_test_data + i * FLASH_PAGE_SIZE + j)))
            {
                FLASH_Lock();
                return -1;
            }
        }
        start_addr += FLASH_PAGE_SIZE;
    }

    FLASH_Lock();
    return 0;
}

int main(void)
{
    // 执行HTOL测试
    if (htol_test() == 0)
    {
        // 测试通过
        while (1)
        {
            // do something
        }
    }
    else
    {
        // 测试失败
        while (1)
        {
            // do something else
        }
    }
}

在该示例程序中，我们首先定义了HTOL测试的相关参数，包括测试数据大小和测试数据模式。然后，在程序开始执行之前，我们初始化了测试数据。接着，我们使用STM32的Flash API实现了HTOL测试的核心逻辑，包括擦除测试区域、写入测试数据和读出测试数据。最后，我们根据测试结果判断测试是否通过，并执行相应的操作。

需要注意的是，HTOL测试会对芯片的Flash进行大量的读写操作，因此可能会对芯片的寿命产生一定的影响。在实际应用中，我们需要根据具体情况进行评估并谨慎使用。