STM32F407 DAC检测电池电压代码

下面是基于STM32F407芯片的DAC检测电池电压的代码示例：

#include "stm32f4xx.h"

// 定义DAC输出引脚对应的GPIO端口和引脚号
#define DAC_GPIO_PORT    GPIOA
#define DAC_GPIO_PIN     GPIO_Pin_4

// 定义ADC输入引脚对应的GPIO端口和引脚号
#define ADC_GPIO_PORT    GPIOA
#define ADC_GPIO_PIN     GPIO_Pin_0

// 定义ADC采样周期
#define ADC_SAMPLE_CYCLES   480

// 定义DAC输出值与电压之间的转换系数
#define DAC_VREF    3.3f    // DAC参考电压为3.3V
#define DAC_RESOLUTION  4096    // DAC分辨率为12位
#define VBAT_DIV_RATIO  2.0f    // 电池电压分压比为2:1
#define DAC_OUTPUT_SCALE    (DAC_VREF / DAC_RESOLUTION * VBAT_DIV_RATIO)

// 初始化DAC
void DAC_Init(void)
{
    GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure;
    DAC_InitTypeDef DAC_InitStructure;

    // 使能DAC和GPIO时钟
    RCC_APB1PeriphClockCmd(RCC_APB1Periph_DAC, ENABLE);
    RCC_AHB1PeriphClockCmd(RCC_AHB1Periph_GPIOA, ENABLE);

    // 配置DAC输出引脚对应的GPIO
    GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = DAC_GPIO_PIN;
    GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AN; // 模拟输入模式
    GPIO_InitStructure.GPIO_PuPd = GPIO_PuPd_NOPULL;
    GPIO_Init(DAC_GPIO_PORT, &GPIO_InitStructure);

    // DAC初始化
    DAC_InitStructure.DAC_Trigger = DAC_Trigger_None;
    DAC_InitStructure.DAC_OutputBuffer = DAC_OutputBuffer_Enable;
    DAC_Init(DAC_Channel_1, &DAC_InitStructure);

    // 使能DAC通道1
    DAC_Cmd(DAC_Channel_1, ENABLE);
}

// 初始化ADC
void ADC_Init(void)
{
    GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure;
    ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure;
    ADC_CommonInitTypeDef ADC_CommonInitStructure;

    // 使能ADC和GPIO时钟
    RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_ADC1, ENABLE);
    RCC_AHB1PeriphClockCmd(RCC_AHB1Periph_GPIOA, ENABLE);

    // 配置ADC输入引脚对应的GPIO
    GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = ADC_GPIO_PIN;
    GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AN; // 模拟输入模式
    GPIO_InitStructure.GPIO_PuPd = GPIO_PuPd_NOPULL;
    GPIO_Init(ADC_GPIO_PORT, &GPIO_InitStructure);

    // ADC公共配置
    ADC_CommonInitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;
    ADC_CommonInitStructure.ADC_Prescaler = ADC_Prescaler_Div4;
    ADC_CommonInitStructure.ADC_DMAAccessMode = ADC_DMAAccessMode_Disabled;
    ADC_CommonInitStructure.ADC_TwoSamplingDelay = ADC_TwoSamplingDelay_5Cycles;
    ADC_CommonInit(&ADC_CommonInitStructure);

    // ADC配置
    ADC_InitStructure.ADC_Resolution = ADC_Resolution_12b;
    ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE;
    ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = DISABLE;
    ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConvEdge = ADC_ExternalTrigConvEdge_None;
    ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConv = ADC_ExternalTrigConv_T1_CC1;
    ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right;
    ADC_InitStructure.ADC_NbrOfConversion = 1;
    ADC_Init(ADC1, &ADC_InitStructure);

    // 配置ADC采样周期
    ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SAMPLE_CYCLES);

    // 使能ADC
    ADC_Cmd(ADC1, ENABLE);
}

// 获取电池电压
float GetBatteryVoltage(void)
{
    uint16_t adc_value;
    float voltage;

    // 启动ADC采样
    ADC_SoftwareStartConv(ADC1);

    // 等待ADC采样完成
    while(!ADC_GetFlagStatus(ADC1, ADC_FLAG_EOC));

    // 读取ADC采样结果
    adc_value = ADC_GetConversionValue(ADC1);

    // 计算电池电压
    voltage = (float)adc_value / DAC_RESOLUTION * DAC_VREF / VBAT_DIV_RATIO;

    return voltage;
}

int main(void)
{
    float battery_voltage;

    // 初始化DAC和ADC
    DAC_Init();
    ADC_Init();

    while(1)
    {
        // 获取电池电压
        battery_voltage = GetBatteryVoltage();

        // 将电池电压转换为DAC输出值并输出到DAC引脚
        DAC_SetChannel1Data(DAC_Align_12b_R, (uint16_t)(battery_voltage / DAC_OUTPUT_SCALE));

        // 延时一段时间
        // ...
    }
}

以上代码中，使用DAC将电池电压的模拟值输出到DAC引脚，然后ADC读取DAC引脚的模拟值进行采样。通过计算ADC采样结果和DAC输出值之间的转换系数，可以将采样结果转换为电池电压。