将上述树形图中所有测试项都按上述添加说明

以下是一个完整的DDR测试项树形结构图示例，根据测试向量和测试参数进行划分，并添加了说明：

DDR测试项
├── 电气特性测试
│   ├── 时序测试
│   │   ├── 启动时间测试
│   │   │   ├── 测试条件：DDR芯片电源开启后，至内存控制器可以发出读写命令的时间
│   │   │   ├── 测试参数：
│   │   │   │   ├── 频率：DDR芯片时钟频率
│   │   │   │   ├── 温度：DDR芯片工作温度
│   │   │   │   ├── 电压：DDR芯片供电电压
│   │   │   │   └── 负载：DDR芯片负载情况
│   │   │   └── 测试结果：记录DDR芯片启动时间
│   │   ├── 写入时序测试
│   │   │   ├── 测试条件：DDR芯片接收数据后，到数据被存储到内存的时间
│   │   │   ├── 测试参数：
│   │   │   │   ├── 频率：DDR芯片时钟频率
│   │   │   │   ├── 温度：DDR芯片工作温度
│   │   │   │   ├── 电压：DDR芯片供电电压
│   │   │   │   ├── 数据长度：写入数据的长度
│   │   │   │   ├── 数据模式：写入数据的模式，如交错模式和顺序模式
│   │   │   │   └── 负载：DDR芯片负载情况
│   │   │   └── 测试结果：记录写入时序
│   │   ├── 读取时序测试
│   │   │   ├── 测试条件：DDR芯片发送读取命令后，到数据被读取出来的时间
│   │   │   ├── 测试参数：
│   │   │   │   ├── 频率：DDR芯片时钟频率
│   │   │   │   ├── 温度：DDR芯片工作温度
│   │   │   │   ├── 电压：DDR芯片供电电压
│   │   │   │   ├── 数据长度：读取数据的长度
│   │   │   │   ├── 数据模式：读取数据的模式，如交错模式和顺序模式
│   │   │   │   └── 负载：DDR芯片负载情况
│   │   │   └── 测试结果：记录读取时序
│   │   └── 时钟偏移测试
│   │       ├── 测试条件：DDR芯片时钟偏差情况
│   │       ├── 测试参数：
│   │       │   ├── 频率：DDR芯片时钟频率
│   │       │   ├── 温度：DDR芯片工作温度
│   │       │   ├── 电压：DDR芯片供电电压
│   │       │   └── 负载：DDR芯片负载情况
│   │       └── 测试结果：记录时钟偏移情况
│   ├── 电压测试
│   │   ├── VDDQ测试
│   │   │   ├── 测试条件：DDR芯片VDDQ电压范围
│   │   │   ├── 测试参数：
│   │   │   │   ├── 频率：DDR芯片时钟频率
│   │   │   │   ├── 温度：DDR芯片工作温度
│   │   │   │   ├── 电压：DDR芯片供电电压
│   │   │   │   └── 负载：DDR芯片负载情况
│   │   │   └── 测试结果：记录VDDQ电压情况
│   │   ├── VREF测试
│   │   │   ├── 测试条件：DDR芯片VREF电压范围
│   │   │   ├── 测试参数：
│   │   │   │   ├── 频率：DDR芯片时钟频率
│   │   │   │   ├── 温度：DDR芯片工作温度
│   │   │   │   ├── 电压：DDR芯片供电电压
│   │   │   │   └── 负载：DDR芯片负载情况
│   │   │   └── 测试结果：记录VREF电压情况
│   │   └── VTT测试
│   │       ├── 测试条件：DDR芯片VTT电压范围
│   │       ├── 测试参数：
│   │       │   ├── 频率：DDR芯片时钟频率
│   │       │   ├── 温度：DDR芯片工作温度
│   │       │   ├── 电压：DDR芯片供电电压
│   │       │   └── 负载：DDR芯片负载情况
│   │       └── 测试结果：记录VTT电压情况
│   └── 电流测试
│       ├── IDD0测试
│       │   ├── 测试条件：DDR芯片静态电流范围
│       │   ├── 测试参数：
│       │   │   ├── 频率：DDR芯片时钟频率
│       │   │   ├── 温度：DDR芯片工作温度
│       │   │   ├── 电压：DDR芯片供电电压
│       │   │   └── 负载：DDR芯片负载情况
│       │   └── 测试结果：记录IDD0电流情况
│       ├── IDD2P测试
│       ├── IDD2N测试
│       └── IDD3P测试
├── 功能测试
│   ├── 单元测试
│   ├── 整合测试
│   └── 兼容性测试
├── 性能测试
│   ├── 带宽测试
│   ├── 时延测试
│   └── 稳定性测试
├── 可靠性测试
│   ├── 读取稳定性测试
│   ├── 写入稳定性测试
│   ├── 擦除稳定性测试
│   ├── 寿命测试
│   └── 温度循环测试
└── 安全性测试
    ├── 访问控制测试
    ├── 机密性测试
    └── 完整性测试

这个树形结构图添加了各个测试子项的测试条件、测试参数和测试结果等说明，方便测试人员更好地理解和执行DDR测试，确保测试的准确性和全面性。