Mentor Graphics Tessent 如何添加MBIST？

在 Mentor Graphics Tessent 中添加 MBIST 可以通过以下步骤进行：

1. 打开 Tessent 工具，创建一个新的工程或打开一个已有的工程。

2. 在工程中选择需要添加 MBIST 的芯片，右键点击该芯片并选择“Add Built-in Self-Test”。

3. 在弹出的菜单中选择“MBIST”。

4. 在“MBIST Configuration”窗口中，选择需要测试的存储器类型和大小，并设置测试时钟和其他测试参数。

5. 点击“Generate”按钮生成测试程序。

6. 在“Simulation Setup”窗口中设置仿真参数，并运行仿真以验证 MBIST 测试程序的正确性。

7. 在芯片设计中添加 MBIST 电路，并将生成的测试程序烧录到芯片中。

8. 在芯片制造过程中运行 MBIST 测试以验证存储器的正确性。

以上就是在 Mentor Graphics Tessent 中添加 MBIST 的基本步骤。需要注意的是，具体操作步骤可能会因为版本不同而略有差异。

相关问题

如何在Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG工具中配置和使用扫描链以进行有效的芯片测试？

为了掌握Tessent Scan & ATPG工具中扫描链的配置和使用，首先应当深入理解扫描链的基本原理和在集成电路测试中的作用。扫描链作为一种DFT技术，能够提高电路的可控性和可观测性，从而增强对芯片内部逻辑的测试能力。在使用Tessent Scan & ATPG进行扫描链设计时，需要遵循以下步骤：（步骤、代码、mermaid流程图、扩展内容，此处略）

参考资源链接：[Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册](https://wenku.csdn.net/doc/4hrkeain68?spm=1055.2569.3001.10343)

首先，要根据芯片设计的特性，合理地选择和设计扫描链的结构，包括链的数量、链路的长度和链路的连接方式。其次，使用Tessent Scan工具进行扫描链的插入，这一过程需要考虑芯片的布局布线（Place and Route）和时序要求。然后，利用ATPG工具自动生成测试向量，这一步骤中，需要定义故障模型和测试策略，确保生成的测试向量能够覆盖所有重要的故障模式。
为了更好地理解这一过程，可以参考《Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册》。该手册详细介绍了Tessent Scan和ATPG工具的使用，包含从基础概念到高级应用的全面内容，对于理解扫描链的配置和测试流程至关重要。通过手册的学习，可以系统地掌握如何在软件版本2018.3中操作这些工具，实现有效的芯片测试。
在学习了基础概念和操作流程之后，建议进一步深入学习相关高级主题，如故障模拟、测试覆盖率分析和高级测试策略优化等，以便在实际工作中更加高效地使用Tessent Scan & ATPG工具。这将有助于提升设计团队的测试效率，确保产品的高质量标准。

参考资源链接：[Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册](https://wenku.csdn.net/doc/4hrkeain68?spm=1055.2569.3001.10343)

在使用Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG工具进行芯片测试时，如何正确配置扫描链以确保测试效率和覆盖率？

在处理集成电路测试的过程中，Tessent Scan & ATPG工具是关键的DFT解决方案，它们在确保芯片测试效率和覆盖率方面扮演着重要角色。为了帮助您有效地配置和使用扫描链，我建议您参考《Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册》。该手册详细描述了2018.3版本软件的使用方法，对于理解扫描链配置和测试流程至关重要。

参考资源链接：[Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册](https://wenku.csdn.net/doc/4hrkeain68?spm=1055.2569.3001.10343)

首先，您需要理解扫描链的基本概念，包括其在电路中的作用、如何插入扫描元素、以及扫描链与ATPG工具的交互方式。扫描链的基本配置步骤通常包括选择测试点、创建扫描元素（如扫描寄存器）、构建扫描路径，并确保扫描数据可以正确地被输入和输出。

在配置扫描链时，您可以通过Tessent Scan工具来完成扫描链设计，包括设置扫描链的长度、数量以及如何连接各个扫描元素。然后，ATPG工具可以利用这些扫描链来生成测试向量，这些向量旨在检测电路中的各种故障模式。

在实现扫描链配置的过程中，您需要确保遵守所有设计规则，并对电路进行充分的仿真以验证扫描链的功能正确性。此外，手册中还会提供有关测试覆盖率的提高、测试时间和成本的优化以及如何诊断和解决测试中遇到的问题的实用信息。

完成配置后，您可以利用ATPG工具生成测试向量，并将这些向量应用于扫描链进行实际的测试。整个过程应当遵循最佳实践，确保测试计划的高效执行。

在深入学习和使用Tessent Scan & ATPG工具的过程中，您不仅需要熟悉工具的功能和操作，还应持续更新您的知识以跟进行业标准和技术进步。《Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册》提供了详细的技术规格和操作指导，是您不可或缺的参考资料。

参考资源链接：[Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册](https://wenku.csdn.net/doc/4hrkeain68?spm=1055.2569.3001.10343)