Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册

"Tessent Scan and ATPG 用户手册是 Mentor Graphics Corporation 出版的一份技术文档，主要关注集成电路测试领域中的可测性设计（DFT）技术。该手册适用于软件版本2018.3，发布于2018年8月，包含文档修订版10。内容涵盖 Tessent Scan 和 ATPG 工具的使用，这两者是 DFT 测试流程中的关键组成部分。ATPG（Automatic Test Pattern Generation）用于自动生成测试向量，而 Tessent Scan 提供扫描链设计和支持，以提高芯片检测缺陷的能力。文档警告在Web浏览器中查看PDF可能导致某些链接失效，建议使用HTML格式进行完整导航。此外，文档的所有权归 Mentor Graphics Corporation 所有，并且仅限原始接收者内部业务用途复制，同时需避免未经授权的使用和分发。" 在集成电路设计中，DFT（Design for Testability）是一种关键的方法，它确保产品在制造过程和后续维护阶段能够有效地进行测试。Tessent Scan 是 Mentor Graphics 的一款DFT工具，它提供了一套完整的扫描链解决方案，扫描链是测试IC时插入电路中的逻辑链，用于存储和传递测试数据。通过扫描链，可以更容易地检测到电路中的故障，提高了测试覆盖率和生产效率。 ATPG工具是DFT流程中不可或缺的一部分，它们自动创建测试模式，这些模式可以激发潜在缺陷并帮助识别制造过程中可能出现的问题。ATPG工具利用逻辑综合和仿真技术来生成测试向量，这些向量用于验证集成电路的正确性。在Tessent Scan和ATPG的结合使用下，设计团队能够更有效地执行测试计划，降低测试成本，提高产品质量。 文档还强调，尽管这份用户手册提供了信息和指导，但Mentor Graphics保留更改产品规格和其他信息的权利，且读者在使用时应咨询公司以确认最新信息。此外，关于 Mentor Graphics 产品的销售和许可条件，将通过书面协议进行规定。 Tessent Scan and ATPG User's Manual 是一个详尽的指南，对于那些需要理解和使用DFT工具，尤其是Tessent Scan和ATPG的工程师来说，是一份宝贵的参考资料。它涵盖了从基本概念到高级应用的各个方面，旨在帮助用户优化他们的集成电路测试流程。