TTL集成逻辑门的逻辑功能测试实验结论

根据TTL集成逻辑门的逻辑功能测试实验，可以得出以下结论：

1. TTL集成逻辑门具有多种逻辑功能，包括与门、或门、非门、异或门等。

2. 在实验中，可以通过输入不同的逻辑电平来测试门的逻辑功能，例如输入全高电平测试与门、输入全低电平测试或门等。

3. 在测试过程中，如果门的输出符合其逻辑功能的定义，则说明门的功能正常；反之则说明门存在故障或损坏。

4. 在实验中，还可以通过串联多个门来实现更复杂的逻辑功能，例如通过与门和非门组合实现与非门等。

综上所述，TTL集成逻辑门的逻辑功能测试实验可以有效地检测门的逻辑功能是否正常，并且可以通过组合不同的门实现更复杂的逻辑功能。