halcon光度立体

Halcon光度立体法是一种用于三维表面检测的方法。通过利用光线在物体表面的反射和阴影来检测表面的缺口或凹痕。在Halcon中，使用增强的光度立体视觉方法可以轻松地在复杂图像中找到表面缺陷。具体而言，光度立体法通过测量光线的倾斜角度来描述光线的入射方向，从而确定物体表面的几何形状。倾斜角度为0表示光线来自右侧，倾斜角度为90表示光线来自顶部，倾斜角度为180表示光线来自左侧，依此类推。这种方法可以在工业领域广泛应用于表面缺陷检测等任务。