DFT一般有哪些未能覆盖的场景，以SM8550 为例

DFT（Design for Testability，可测试性设计）测试无法覆盖的场景通常包括以下几个方面：

1. 功能测试：DFT测试通常是针对芯片中的IP（Intellectual Property，知识产权）进行的，无法覆盖整个芯片的功能测试。例如，在SM8550芯片中，DFT测试可以测试CPU、GPU、内存、显卡等IP的功能，但无法测试整个系统的功能。

2. 环境测试：DFT测试通常在特定环境下进行，例如在测试芯片时，需要使用特定的测试仪器和测试环境。因此，DFT测试无法覆盖芯片在不同环境下的测试场景，例如在高温、低温、高湿度等环境下的测试。

3. 异常测试：DFT测试通常是针对芯片的正常工作情况进行的，无法覆盖异常情况下的测试场景。例如，在SM8550芯片中，DFT测试无法覆盖断电、掉电、电压波动等异常情况下的测试。

4. 系统级测试：DFT测试通常是针对芯片中的IP进行测试的，无法覆盖整个系统级的测试场景。例如，在SM8550芯片中，DFT测试无法测试整个系统的启动、操作系统、网络、多媒体等方面的功能。

因此，为了覆盖DFT测试无法覆盖的场景，需要使用SLT（System-Level Test）测试来检测和修复故障。在SM8550芯片中，SLT测试可以对整个系统进行测试，包括启动测试、操作系统测试、网络测试、多媒体测试等，以确认芯片是否符合规格书中的功能和性能指标。