芯片HTOL实验程序例子keil STM32

下面是一个基于Keil和STM32的HTOL芯片实验程序示例：

#include "stm32f10x.h"
#include "stm32f10x_flash.h"

#define FLASH_PAGE_SIZE    ((uint16_t)0x400)
#define FLASH_BANK1_START_ADDR    ((uint32_t)0x08000000)
#define FLASH_BANK2_START_ADDR    ((uint32_t)0x08040000)

#define HTOL_TEST_ADDR    FLASH_BANK1_START_ADDR

#define HTOL_TEST_DATA_SIZE    1024    // HTOL测试数据大小，单位为字节
#define HTOL_TEST_PATTERN    0xAA    // HTOL测试数据模式

uint8_t htol_test_data[HTOL_TEST_DATA_SIZE];

void htol_init_test_data(void)
{
    uint32_t i;
    for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE; i++)
    {
        htol_test_data[i] = HTOL_TEST_PATTERN;
    }
}

int htol_test(void)
{
    uint32_t i, j;
    uint16_t page_num;
    uint32_t start_addr;
    FLASH_Status status;

    // 初始化测试数据
    htol_init_test_data();

    // 擦除测试区域
    FLASH_Unlock();
    FLASH_ClearFlag(FLASH_FLAG_BSY | FLASH_FLAG_EOP | FLASH_FLAG_PGERR | FLASH_FLAG_WRPRTERR);
    status = FLASH_ErasePage(HTOL_TEST_ADDR);
    if (status != FLASH_COMPLETE)
    {
        FLASH_Lock();
        return -1;
    }

    // 写入测试数据
    start_addr = HTOL_TEST_ADDR;
    for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE / FLASH_PAGE_SIZE; i++)
    {
        page_num = (start_addr - FLASH_BANK1_START_ADDR) / FLASH_PAGE_SIZE;
        if (FLASH_ErasePage(start_addr) != FLASH_COMPLETE)
        {
            FLASH_Lock();
            return -1;
        }
        for (j = 0; j < FLASH_PAGE_SIZE; j += 2)
        {
            if (FLASH_ProgramHalfWord(start_addr + j, *((uint16_t *)(htol_test_data + i * FLASH_PAGE_SIZE + j))) != FLASH_COMPLETE)
            {
                FLASH_Lock();
                return -1;
            }
        }
        start_addr += FLASH_PAGE_SIZE;
    }

    // 读出测试数据
    start_addr = HTOL_TEST_ADDR;
    for (i = 0; i < HTOL_TEST_DATA_SIZE / FLASH_PAGE_SIZE; i++)
    {
        for (j = 0; j < FLASH_PAGE_SIZE; j += 2)
        {
            if (*((uint16_t *)(start_addr + j)) != *((uint16_t *)(htol_test_data + i * FLASH_PAGE_SIZE + j)))
            {
                FLASH_Lock();
                return -1;
            }
        }
        start_addr += FLASH_PAGE_SIZE;
    }

    FLASH_Lock();
    return 0;
}

int main(void)
{
    // 执行HTOL测试
    if (htol_test() == 0)
    {
        // 测试通过
        while (1)
        {
            // do something
        }
    }
    else
    {
        // 测试失败
        while (1)
        {
            // do something else
        }
    }
}

在该示例程序中，我们首先定义了HTOL测试的相关参数，包括测试数据大小和测试数据模式。然后，在程序开始执行之前，我们初始化了测试数据。接着，我们使用STM32的Flash API实现了HTOL测试的核心逻辑，包括擦除测试区域、写入测试数据和读出测试数据。最后，我们根据测试结果判断测试是否通过，并执行相应的操作。

需要注意的是，HTOL测试会对芯片的Flash进行大量的读写操作，因此可能会对芯片的寿命产生一定的影响。在实际应用中，我们需要根据具体情况进行评估并谨慎使用。