STM32 SRAM 调试技巧：揭开嵌入式系统内部秘密，快速解决疑难杂症

# 1. STM32 SRAM 调试简介

SRAM（静态随机存取存储器）是 STM32 微控制器中常用的存储器类型，用于存储程序和数据。在开发和调试过程中，SRAM 调试至关重要，因为它可以帮助识别和解决内存相关问题。本章将介绍 SRAM 调试的基础知识，包括 SRAM 的架构、工作原理和常见故障类型。

# 2. SRAM 调试理论基础

### 2.1 SRAM 架构与工作原理

#### 2.1.1 SRAM 的存储单元结构

SRAM（静态随机存取存储器）是一种半导体存储器，它使用晶体管来存储数据。SRAM 的基本存储单元称为记忆单元，它由六个晶体管组成，形成两个交叉耦合的反相器。

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                    |              |
                    |   Bit Line 1   |
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                |              |              |
                |   Bit Line 2   |   Bit Line 3   |
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                    |              |
                    |   Word Line    |
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* **位线 (Bit Line)**：水平线，用于读取或写入数据。
* **字线 (Word Line)**：垂直线，用于选择要访问的记忆单元。

#### 2.1.2 SRAM 的读写操作流程

**读取操作：**

1. 选中要读取的记忆单元的字线。
2. 读取位线上的电压。
3. 如果两个位线上的电压不同，则读取到 1；如果相同，则读取到 0。

**写入操作：**

1. 选中要写入的记忆单元的字线。
2. 设置两个位线上的电压，使它们表示要写入的数据。
3. 断开字线，数据将被存储在记忆单元中。

### 2.2 SRAM 常见故障类型

SRAM 在使用过程中可能会遇到各种故障，