高效检测随机存取内存3-耦合故障的March测试算法

“March Test Algorithm for 3-Coupling Faults in Random Access Memories”是一篇关于检测随机访问存储器（RAM）中3-耦合故障的高效测试算法的论文。作者为CAŞCAVAL PETRU和ONEA ALEXANDRU，分别来自罗马尼亚“Gh. Asachi”技术大学计算机科学系和自动控制系。 正文： 随着半导体技术的快速发展，单片芯片上的随机访问内存（RAM）不断增大并变得更加密集。这种增长趋势导致了内存测试时间的增加，因为需要检测的故障类型和数量也随之增加。其中，耦合故障是RAM中的一种特殊类型故障，它发生在相邻的存储单元之间，由于电磁干扰或工艺缺陷导致相邻位的错误读写。 本文提出的March Test Algorithm针对3-耦合故障进行了优化，仅考虑物理上相邻的存储单元之间的这类故障，以降低测试序列的长度。该算法执行34N次操作，显著减少了与[1]中给出的需要38N操作的测试算法相比的测试复杂度。这里的N代表内存中的存储单元数量。 耦合故障测试对于确保RAM的可靠性和数据完整性至关重要。通过注入故障的仿真方法，作者展示了新算法在覆盖3-耦合故障方面的效果。这些结果表明，新算法在保证测试效率的同时，能够有效地检测并定位故障，提高了测试覆盖率。 March测试是一种广泛应用的内存测试技术，它通过执行一系列预定义的操作序列来检查内存中的功能故障和耦合故障。在本文中提到的March Test Algorithm，其设计目的是在最少的操作次数下，有效地发现那些可能导致数据错误的耦合效应。 这项工作对RAM测试领域做出了贡献，优化了检测3-耦合故障的策略，降低了测试成本，同时保证了较高的故障检测率。这对于半导体制造和电子设备制造商来说具有重要的实践意义，因为它可以帮助他们在产品出厂前确保内存的质量和稳定性。