DFT Compiler Scan用户指南E-2010.12-SP2:2011年3月学习设计详解

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"《DFT Compiler Scan 用户指南》版本E-2010.12-SP2,发布于2011年3月,是专为学习和理解数字测试(DFT)与扫描设计而编写的详细手册。该文档由Synopsys公司所有,包含了其版权和专有信息,受严格许可协议保护,仅能在许可范围内使用或复制。 该用户指南深入探讨了DFT Compiler工具的功能,特别是扫描功能,这是现代集成电路设计中的关键组成部分,用于检测和调试设计中的潜在问题。用户可以从中学习如何有效地配置和执行静态时序分析、逻辑一致性检查、路径延迟测量等高级测试策略。此外,指南还涵盖了如何设置边界条件、扫描链、以及如何与其他设计工具(如Synthesis工具)集成,以实现完整的芯片验证流程。 版权和复制权部分强调了遵守严格的法律条款的重要性,未经Synopsys书面许可,不得进行任何形式的复制、传输或翻译。每个内部使用的文档副本必须按照规定带有版权声明和序列号,并且必须包含原始的版权、商标和服务标记,以及任何专有权利声明。 通过阅读和遵循这份指南,读者不仅可以掌握DFT Compiler Scan的具体操作步骤,还能理解在实际设计项目中如何实施有效的DFT策略,以确保电路的正确性和可靠性。对于从事硬件设计和验证工作的工程师来说,这是一份不可或缺的参考资料。"
2015-10-22 上传