使用Voltus和Innovus进行信号电迁移优化指南

"Signal Electromigration (EM) 是电子设备中的一个重要问题，它指的是由于电流引起的金属线的物理迁移，可能导致电路性能下降甚至失效。Cadence Design Systems 出版的 'Rapid Adoption Kit (RAK) Signal Electromigration Optimization' 文档详细介绍了如何使用 Voltus 和 Innovus 工具进行 EM 优化，这两个工具都是 Cadence 公司的产品，分别用于电路仿真和集成电路设计。这份文档版本为 18.10，发布于2018年8月，旨在帮助用户快速掌握信号 EM 优化流程。 文档首先提供了 EM 限制规范，包括 ICT（Interconnect Current Temperature）的 EM 限制，讨论了如何将这些规则合并到 QRCTechnology 文件中。接着，介绍了如何将 EM iRCX 文件转换为 ICT 文件，这是进行 EM 分析前的重要步骤。 加载设计以进行 AC（交流）信号 EM 分析的流程在文档中被详细阐述，包括如何获取 RAK 测试用例，以及如何加载设计。文档指出，为了考虑寄生电阻和电容的影响，需要读取 SPEF 文件，并进行 QRC 基础的特殊流程来提取 RC 参数。然后，文档指导用户如何在顶层运行 AC 信号 EM 分析，使用 `create_top_scope` 功能，并提供了分析报告的解析方法。 对于 AC 信号 EM 违规的处理，文档给出了相应的解决方案。此外，还讲解了如何运行 DC（直流）信号 EM 分析，以及如何解决由此产生的违规问题。 文档最后，列出了参考资料，提供了支持和反馈渠道，帮助用户在实际应用中更好地理解和解决问题，提升设计的可靠性与稳定性。" 这段摘要涵盖了标题和描述中提到的关键知识点，即使用 Cadence 的 Voltus 和 Innovus 工具进行 Signal Electromigration 优化的详细步骤，包括 EM 规则的设定、设计的加载、寄生参数的提取、分析的运行以及违规的修复等。这些内容对于进行高可靠性 IC 设计的工程师来说是非常重要的指导材料。