ARM JTAG调试详解：IEEE1149.1标准与边界扫描技术

ARM JTAG调试原理--OPEN-JTAG开发小组.pdf是一份深入解析ARM JTAG调试技术的文档，主要关注于TAP（Test Access Port）和Boundary-Scan Architecture这两个核心概念。ARM7TDMI是ARM架构的一种，其JTAG调试是现代嵌入式系统开发中的关键工具。 文档首先介绍了前言，强调了JTAG调试在ARM开发中的重要性，以及作者分享的心得体会。JTAG，全称为Joint Test Action Group，源自IEEE 1149.1标准，它定义了一种通用的硬件测试接口，用于调试和诊断电子设备。标准中的TAP是一个可编程的测试入口，允许外部设备访问目标系统的内部逻辑，进行数据交换和指令执行。 在JTAG调试中，边界扫描技术起着至关重要的作用。通过在芯片的输入输出引脚附近添加边界扫描寄存器，可以实现隔离和控制，使得开发者能够在不影响正常工作的情况下对芯片内部进行测试。对于输入，可以将数据写入边界扫描寄存器再送至芯片；对于输出，可以捕获并分析寄存器内的信号，从而监控和验证芯片行为。 作者承认自己对ARM JTAG的理解可能存在不足，并鼓励读者提出问题和讨论，共同学习和提升。这份文档适合那些想要了解和实践ARM JTAG调试的工程师，特别是对于初学者，它提供了一个入门级的指南，而对深入理解者，则可以作为进一步研究的基石，结合IEEE 1149.1标准获取更详尽的信息。 该文档不仅概述了JTAG调试的基本原理，还涉及到了ARM7TDMI的具体应用，是一份实用且富有深度的技术参考资料。