ARM JTAG 调试原理详解

ARM JTAG 调试原理 ARM JTAG 调试原理是基于IEEE Standard 1149.1的测试访问端口（TAP）和边界扫描架构（Boundary-Scan Architecture）的技术。该技术主要用于调试和测试ARM处理器，例如ARM7TDMI。 TAP（TEST ACCESS PORT）是JTAG调试的核心组件之一，负责控制和监控芯片的测试过程。TAP由四个信号线组成：TCK（时钟信号）、TMS（模式选择信号）、TDI（数据输入信号）和TDO（数据输出信号）。TAP可以实现芯片的测试、调试和烧录等功能。 边界扫描架构（Boundary-Scan Architecture）是JTAG调试的另一个关键组件。该架构主要用于观察和控制芯片的输入输出信号。边界扫描寄存器（Boundary-Scan Register Cell）是边界扫描架构的基本单元，分布在芯片的边界上。这些寄存器可以将芯片和外围的输入输出隔离开来，并实现对芯片输入输出信号的观察和控制。 ARM JTAG 调试原理的应用非常广泛，例如在ARM7TDMI等ARM处理器的调试和测试中。ARM JTAG 调试原理的优点是可以快速地对芯片进行调试和测试，减少产品的开发周期和成本。 OPEN-JTAG是基于ARM JTAG 调试原理的开源项目，提供了一个自由的JTAG调试解决方案。OPEN-JTAG开发小组为ARM JTAG 调试原理的推广和应用做出了重要贡献。 IEEE Standard 1149.1是JTAG调试的国际标准，定义了JTAG调试的基本原理和技术规范。该标准由JTAG这个组织最初提出的，并由IEEE批准并标准化的。 ARM JTAG 调试原理是基于TAP和边界扫描架构的技术，广泛应用于ARM处理器的调试和测试中。其优点是可以快速地对芯片进行调试和测试，减少产品的开发周期和成本。