ARM JTAG 调试原理详解：TAP 和边界扫描架构

ARM JTAG 调试原理 ARM JTAG 调试原理是基于 IEEE 1149.1 标准的，主要用于 ARM 处理器的调试和测试。该原理主要包括两个部分：TAP(TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE。 TAP(TEST ACCESS PORT) 是一种测试访问端口，用于提供对 ARM 处理器的访问和控制。TAP 由四个信号线组成：TCK、TMS、TDI 和 TDO。TCK 是时钟信号线，TMS 是模式选择信号线，TDI 是数据输入信号线，TDO 是数据输出信号线。通过 TAP，可以对 ARM 处理器进行调试、测试和烧录。 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 是一种边界扫描技术，用于在芯片的输入/输出管脚上增加一个移位寄存器单元，以便在调试状态下观察和控制芯片的输入/输出信号。边界扫描寄存器单元可以将芯片和外围的输入/输出隔离开来，并可以实现对芯片输入/输出信号的观察和控制。 在 ARM JTAG 调试原理中，TAP 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 是两个紧密相连的部分。TAP 提供了对 ARM 处理器的访问和控制，而 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 则提供了对芯片输入/输出信号的观察和控制。通过这两个部分的结合，可以实现对 ARM 处理器的调试、测试和烧录。 此外，ARM JTAG 调试原理还可以应用于 ARM7TDMI 处理器的调试中。ARM7TDMI 处理器是一种基于 ARMv4T 架构的处理器，具有高性能和低功耗的特点。在 ARM JTAG 调试原理中，ARM7TDMI 处理器可以通过 TAP 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 进行调试和测试。 ARM JTAG 调试原理是基于 IEEE 1149.1 标准的，主要用于 ARM 处理器的调试和测试。该原理主要包括 TAP 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 两个部分，通过这两个部分的结合，可以实现对 ARM 处理器的调试、测试和烧录。 在实际应用中，ARM JTAG 调试原理广泛应用于嵌入式系统的调试和测试中，如机器人、自动控制系统、通讯设备等。同时，该原理也可以应用于 ARM 处理器的软件开发和测试中，如操作系统的开发、驱动程序的开发等。 ARM JTAG 调试原理是 ARM 处理器调试和测试的重要技术之一，对于 ARM 处理器的开发和应用具有重要的意义。