红外成像系统激光干扰饱和串音效应仿真研究

"本文主要探讨了红外成像系统在遭遇激光干扰时出现的饱和串音效应，并进行了相关的机理分析和仿真研究。" 红外成像系统是现代军事和科研领域中的关键技术，它能捕捉并转化为图像目标的红外辐射，从而实现远距离、夜间或复杂环境下的目标识别与追踪。然而，这种系统面临着激光干扰的威胁。激光因其高亮度和定向性，可能对红外成像系统造成严重干扰，甚至导致系统失效。 文章中，作者高巍巍和王晓蕊深入分析了激光干扰导致的饱和串音效应。饱和串音是指当激光功率密度超过红外探测器（如CCD）的线性响应范围时，探测器输出进入饱和状态，进而影响图像质量的现象。具体来说，当局部受到强激光照射，探测器的光敏区会饱和，未受光照的部分也会沿着电荷传输方向出现亮线，随着激光强度增加，亮线扩大，最终可能导致整个探测器区域饱和。 作者通过计算激光光斑的半径和能量分布，建立了红外成像系统在激光干扰下的饱和串音模型。利用系统仿真软件，他们模拟了激光照射前后系统成像效果的变化，证实了激光干扰对红外成像系统成像质量的显著影响。这项工作对于理解激光对红外成像系统的干扰机制具有重要意义，也为对抗激光干扰提供了理论基础。 饱和串音效应的建模与仿真研究仍处于初级阶段，但随着计算机仿真技术的发展，通过建立理论模型并进行仿真，可以更直观地评估激光对成像系统的干扰程度，降低实验成本，同时为现场试验提供可靠的数据支持。因此，红外成像系统激光干扰效果的仿真研究在光电对抗领域具有重要价值，对于提升系统抗干扰能力和优化设计具有广阔的实践应用前景。 该研究揭示了红外成像系统在激光干扰下的饱和串音现象，为未来改进红外探测器的性能和开发有效的干扰防护策略提供了理论依据和技术支持。