光纤低相干法：高精度透射样品色散与折射率测量

本文主要探讨了一种创新的基于光谱光纤低相干技术的透射样品色散和折射率测量方法。该方法的独特之处在于它利用光纤作为媒介，通过精密的步进电机扫描系统参考臂，实现了对光信号的精确控制和分析。干涉光信号在通过光谱仪后，由CCD探测器捕获，通过对样品上下表面的光谱干涉信号进行处理，可以计算出相位差值，进而推算出群延迟色散。 传统的色散测量可能受到光纤引起的参考臂和样品臂之间色散不匹配的影响，但在这种新型方法中，由于采用了低相干技术，这一问题得到了有效解决，确保了测量结果的准确性。色散测量的精度达到了极高的水平，可以达到±0.2747×10^-14 fs^2/mm，这是非常精密的测量标准。 进一步地，通过在样品臂中放置反射镜，研究人员可以测量系统的色散不匹配值，这个数值对于精确补偿系统色散至关重要。与传统的半峰全宽变化评估色散补偿相比，定量补偿方法不仅提高了补偿的精度，而且还减少了重复计算半峰全宽的工作量。定量补偿的精度达到了±0.019×10^-12 fs^2，这显著提升了整个测量过程的效率和可靠性。 这种方法的应用领域广泛，特别适合于光通信、光纤光学系统设计以及精密的光学材料性能评估。通过采用光谱学和低相干技术，科学家们能够更准确地掌握光学介质的性质，这对于提升光电子设备的性能和优化光传输系统的稳定性具有重要意义。这是一种高效且精确的光学测量手段，对于推动现代光学研究和实际应用有着不可忽视的价值。