北大微电子学系：Verilog testbench激励方法与复杂testbench示例

本资源是一份关于北京大学数字集成电路课程的课件，专注于介绍如何编写Verilog测试台（testbench）的实践技巧。主要内容包括施加激励的不同方法和testbench的组织结构。设计验证过程中，激励（stimulus）起着关键作用，它能够通过不同的方式驱动设计，如从initial块、循环或always块、向量数组施加，以及录制和回放仿真过程。 学习者会了解到，一个testbench的主要目的是提供给被验证的设计（DUT，Design Under Test）输入，以检查其行为是否符合预期。testbench可以根据复杂度分为两种类型：简单testbench通常只提供一次性或序列化的向量，供人工验证输出；而复杂的testbench则更为自检测，能自动验证结果。此外，还强调了并行块（如fork…join）在复杂的激励设置中的应用，它们可以同时执行多个操作，模拟真实世界中的并发行为。 在课程中，一个名为`inline_tb`的模块示例展示了如何使用fork…join来实现并行激励，通过两个repeat循环在不同时间启动，分别更新`data_bus`变量，这种并行执行使得模拟更接近实际应用中的行为。模块`clk_gen`则展示了包含文件（include statements）的使用，通过引入公共代码，简化了重复部分的编写。 这份课件涵盖了数字集成电路设计验证的实战技巧，从testbench的编写规范、激励的施加策略到模块间的交互，对于理解和实践Verilog语言进行硬件描述具有重要参考价值。通过学习这些内容，学生将能够更好地构建有效的testbenches，确保设计的正确性和有效性。