运算放大器测试电路配置详解

"本文主要探讨了两种用于运算放大器测试的电路配置，即自测试电路和双运算放大器测试电路，这些配置可以通过不同继电器设置在同一电路设计中实现。电路设计旨在提供灵活的测试方法，以适应不同运算放大器的性能评估需求。文章通过一系列电路图，如图1至图13，详细展示了如何通过打开和关闭继电器来选择合适的测试路径，并特别关注了电压失调测量和输入偏置电流的测量方法。" 在电压失调测量方面，文章提供了两种方法：双放大器环路和自测试法。在双放大器环路中（如图2所示），通过K22配置，输出可以直接连接到ADC或DMM，或者通过R5和C7的RC网络滤波。测量时，被测放大器的输出由指零放大器强制为0.0V，从而使输入节点电压等于VOS，进而计算出失调电压。而在自测试法中（如图3所示），环路放大器作为单位增益缓冲器，确保稳定无振荡，同样可以测量VOS。 对于输入偏置电流的测量，文中提到了电容法。在环路控制和自测试环路中，电容法是一个有效手段。图4展示了双放大器环路测量正输入偏置电流IB+的配置，而图5则说明了自测试电容法下的测量电路。在进行这些测量时，由于输入偏置电流测试可能引发振荡，因此需要密切关注环路输出以确保测试的准确性。 通过这些电路配置，工程师可以有效地测试运算放大器的关键参数，如电压失调和输入偏置电流，从而评估其性能并确保在实际应用中的稳定性和可靠性。这些基础知识对于电子技术初学者和专业人士来说都是重要的学习内容。