ARM JTAG调试详解：TAP与Boundary-Scan架构入门

ARM JTAG调试原理深入解析 本文旨在探讨ARM JTAG调试的基本原理，以ARM7TDMI为核心，结合OPEN-JTAG开发小组的经验分享。首先，我们从IEEE 1149.1-TestAccessPort and Boundary-ScanArchitecture标准出发，JTAG（Joint Test Action Group）是IEEE提出的测试接口标准，它定义了一种通用的硬件和软件接口，用于设备的调试和诊断。 TAP（Test Access Port）是JTAG的核心组件，它提供了设备与测试工具之间的接口，允许调试器读取和写入目标设备的内部寄存器，执行指令序列。TAP包括一组基本门电路，如IDCODE门，用于识别目标设备，以及一组复用门，如配置寄存器门，用于设置测试模式和操作。 Boundary-Scan Architecture（边界扫描架构）则利用额外的边界扫描寄存器分布在芯片的输入输出引脚附近，这些寄存器可以在调试模式下隔离芯片与外部世界的交互。通过这些寄存器，开发者可以实现对芯片内部信号的监视和控制，例如加载数据到输入引脚、捕获输出信号，从而实现非侵入式的调试。 在ARM JTAG调试中，ARM7TDMI作为一款广泛应用的处理器，其调试功能依赖于JTAG接口。开发者需要熟悉其内部结构，包括TAP和边界扫描模块的工作方式，以便有效地利用JTAG进行硬件级的调试，比如设置断点、单步执行指令、检查寄存器值等。 然而，由于作者自身的理解有限，文章可能存在一些不足之处，鼓励读者提出疑问和讨论，共同学习和进步。对于那些想要深入学习JTAG调试的朋友，建议查阅IEEE 1149.1标准以获取更为详尽的理论和实践指导。 本文是ARM JTAG调试入门的指南，对于理解TAP和边界扫描在实际调试中的应用，以及如何在ARM7TDMI上实现有效的调试有着重要的参考价值。希望通过这篇文章，读者能对ARM JTAG有更全面的认识，并能够应用于自己的开发项目中。