ARM JTAG测试原理详解：TAP与边界扫描架构

本报告深入探讨了ARM JTAG测试的基本原理，特别关注于TAP（TEST ACCESS PORT）和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE在ARM7TDMI平台中的应用。首先，报告从IEEE 1149.1 Test Access Port and Boundary-Scan Architecture标准出发，介绍了JTAG测试技术的起源和标准化过程。JTAG，全称JOINT TEST ACTION GROUP，由该组织提出并经IEEE标准化后，成为了业界通用的测试接口标准。 在JTAG测试中，边界扫描（Boundary-Scan）起着核心作用。这是一种技术，通过在芯片输入输出引脚附近添加移位寄存器单元，这些寄存器分布在芯片边缘，因此被称为边界扫描寄存器。在测试模式下，这些寄存器能隔离芯片与外部信号，允许对输入和输出进行观察和控制。对于输入，可以通过连接的边界扫描寄存器装载数据；对于输出，可以捕捉寄存器的内容来读取信号。在正常运行时，这些寄存器是透明的，不会影响芯片性能。 边界扫描链（Boundary-Scan Chain）是多个边界扫描寄存器单元串联形成的结构，通常由芯片本身提供，用于实现全面的测试功能。这些链可以序列地处理输入和输出信号，通过相应的时钟信号和控制信号进行操作。ARM7TDMI是一种特定的微处理器，其架构设计允许充分利用JTAG接口进行高效、精确的硬件级测试，这对于芯片的制造、调试和维护至关重要。 报告接着会详细介绍TAP的具体工作原理，包括它的组成部分如TAP控制逻辑、JTAG IDCODE、以及如何通过它来配置和控制目标系统，以便执行测试序列。此外，还会涉及如何使用TAP进行复位、内存访问和其他高级功能，这些都是理解ARM JTAG测试不可或缺的部分。 总结来说，本报告旨在为读者提供一个详尽的ARM JTAG测试理论框架，涵盖从标准定义到实际应用的各个环节，帮助读者掌握这一在嵌入式系统和集成电路设计中广泛应用的技术。