模拟退火法提升椭偏反演：吸收薄膜参数高效求解

模拟退火法在吸收薄膜的椭偏反演算法中的应用是一项重要的研究，它将模拟退火这种广泛用于解决复杂系统优化问题的策略引入到薄膜光学特性分析中。首先，研究者构建了一个薄膜模型，通过计算得出理想的椭偏参数（ψ, Δ）值。在这个基础上，为了模拟实际测量中的误差，他们添加了不同标准偏差的高斯噪声，形成噪声后的测量数据（ψm, Δm）。接下来，利用模拟退火算法对这些数据进行处理，以求解椭偏反演方程，即找出能够最好地匹配测量数据的薄膜参数。 通过实验验证，这种方法求得的薄膜参数与理论模型的参数接近，与现有文献的结果相吻合。这表明模拟退火算法在处理非线性和复杂关系的椭偏反演问题上表现出了强大的求解能力。即使在搜索范围扩大时，算法仍能保持较高的精度，这进一步证实了其在实际应用中的可行性和有效性。 研究者特别关注的是椭圆偏振技术，这是一种高精度且无损的测量手段，适用于多个领域。然而，由于椭偏方程本身的超越性，直接求解往往困难重重。通过引入模拟退火算法，解决了这个问题，实现了对薄膜光学特性参数的精确估计，简化了复杂的反演过程。 此外，本研究还涉及到了国家自然科学基金的支持，以及对薄膜光学特性测量技术的持续关注。论文的关键词包括椭圆偏振、吸收薄膜、模拟退火等核心概念，表明了研究的焦点集中在这些关键领域。 总结来说，这项工作展示了模拟退火算法在解决薄膜光学特性测量中的反演问题上的优势，为提高测量精度和效率提供了新的途径，为薄膜科学和技术的发展做出了贡献。