频域滤波法：高效去除结构光测量中的金属高光问题

本文主要探讨了在结构光三维测量中遇到的一个关键问题——金属零部件表面局部强反射导致的高光现象。高光使得相机图像饱和，造成信息丢失，进而影响到结构光条纹中心的精确提取，从而增加测量误差。针对这一问题，研究人员提出了基于频域滤波的高光去除方法。 频域滤波法是利用结构光测量系统特有的特性，将高光视为干扰信号，通过比较漫反射光条纹和高光光条纹的频谱分布差异来设计滤波器。具体操作是通过3dsmax软件进行仿真，模拟高光效果，研究不同滤波参数对条纹中心提取精度的影响。实验结果显示，经过频域滤波处理后，条纹中心提取的精度相较于未滤除高光的情况提高了0.8像素。 这种方法在实际叶片测量中得到了应用，有效地解决了金属部件高光带来的困扰，证明了频域滤波法在减少高光对结构光条纹中心提取准确性影响方面具有显著效果。文章强调了该方法对于提高测量精度和避免测量误差的重要性，同时关键词包括测量、结构光三维测量、高光去除、频域滤波以及条纹中心提取，这些都体现了研究的核心内容和实际应用价值。 基于频域滤波的高光去除方法提供了一种有效且实用的解决方案，它通过频谱分析和滤波技术，改善了结构光测量系统的性能，对于精密的工业检测和三维成像有着重要的理论和实践意义。