蚁群算法优化SoC测试访问机制与测试壳

"SoC测试访问机制和测试壳的蚁群联合优化" 在系统级芯片(System-on-Chip, SoC)的设计中，测试访问机制(Test Access Mechanism, TAM)和测试壳(Test Wrapper)的优化是至关重要的。测试访问机制是确保芯片可测试性的一种架构，而测试壳则是连接IP核（ Intellectual Property）与TAM的接口，用于实现IP核的测试。这两者的优化直接影响到SoC的测试效率和成本。 本文提出的"基于蚁群算法的SoC Wrapper TAM联合优化方法"针对SoC测试过程中的两大关键问题：测试壳优化和TAM的测试总线划分。首先，通过蚁群算法对IP核的测试壳进行优化，目标是缩短最长扫描链的长度，以减少每个IP核的测试时间。扫描链是DFT(Design for Testability)中的一种基本结构，用于在测试模式下传递测试向量。缩短扫描链长度可以显著降低测试时间和功耗。 接下来，基于优化后的测试壳，进一步应用蚁群算法来优化TAM结构，特别是测试总线的划分。测试总线的合理划分对于并行测试至关重要，因为它直接影响到测试数据的传输效率和SoC整体的测试时间。通过算法的迭代，可以逐步接近测试总线划分的最优解，从而达到整体测试时间的最小化。 实验结果基于ITC2002基准SoC电路，证明了所提方法的有效性，能够有效地解决SoC测试优化问题。这一联合优化策略不仅减少了测试时间，还有助于缩小DFT结构占用的芯片面积，这对于高密度和高性能的SoC设计而言尤其重要。 这篇文章探讨了一种创新的优化方法，利用生物启发式算法——蚁群算法，解决了SoC测试过程中的复杂优化问题。这种方法的引入为SoC测试领域提供了一个新的优化工具，有助于提高测试效率，降低测试成本，对于推动集成电路设计的工业化进程具有积极意义。同时，这也反映出自然启发的优化算法在解决工程问题上的广阔应用前景。