2007年自动测试系统自检适配器设计关键技术

本文档探讨了一种自动测试系统自检适配器的自动设计技术，发表于2007年的《测试技术学报》第21卷第4期，由中国作者孙宝江、李晓白等人合作完成。研究的核心在于利用面向信号的方法来构建仪器模型和开关模型，通过这种方法，可以实现对系统内所有仪器端口的自动最优匹配，这些匹配的端口与相应的开关组成一个自检回路。这一设计过程不仅自动化，而且遵循了IVI（Interchangeable Virtual Instrument）-Signal Interface标准，这意味着编写的自检程序具有高度的互换性和标准化。 IVI标准的运用使得自检程序的编写更为高效，显著提升了设计效率和标准化程度。具体应用到某机载通讯设备的自动测试系统中，这项技术带来的效益尤为明显，能够将ATS（Automatic Test System，自动测试系统）的自检适配器开发周期缩短至原来的三分之一，从而大幅度节省了开发成本。这对于工程实践中的测试系统设计来说，无疑是一项重要的创新，因为它不仅提高了工作效率，还降低了项目的风险和投入。 本文的技术关注于提升测试系统的自动化水平，减少了人为干预，提高了测试的准确性和一致性，对于现代电子设备的生产和维护有着实际的指导意义。通过采用这种自动设计技术，工程师们能够在更短的时间内创建高质量的自检适配器，进一步推动了整个行业的技术进步。