数字电子技术实验手册：逻辑门电路与组合逻辑测试

"《数字电子技术》实验指导书涵盖了数字电子技术的基础实验内容，旨在帮助学生理解和掌握数字电路的基本逻辑功能。实验涉及门电路逻辑功能的测试、异或门功能测试以及逻辑电路的逻辑关系分析。实验中使用了74LS系列的数字集成电路，如74LS00、74LS20和74LS86，并通过双踪示波器进行观察和数据记录。实验报告要求学生完成表格填写，理解门电路的工作原理，并进行逻辑表达式的推导。" 在《数字电子技术》实验中，首先介绍了实验的目的，包括熟悉门电路的逻辑功能和实验设备的使用。实验设备主要包括双踪示波器和不同类型的数字集成电路。实验一主要关注电路逻辑功能及测试，具体实验步骤如下： 1. 使用74LS20双四输入与非门测试其逻辑功能，通过电平开关设置不同的输入状态，观察并记录输出电压和逻辑状态。 2. 对74LS86二输入四异或门进行测试，同样设置不同输入，记录输出结果，理解异或门的逻辑特性。 实验中还涉及到逻辑电路的逻辑关系分析，通过74LS00构建不同电路，分析输入输出的逻辑关系，并将结果填入表格。此外，实验报告要求学生根据实验结果判断门电路功能是否正常，理解与非门在不同输入状态下的脉冲通过条件，以及解释异或门被称为可控反相门的原因。 实验二是组合逻辑电路的测试，包括半加器和全加器的逻辑功能验证。学生需要掌握组合逻辑电路的功能测试方法，了解74LS系列集成电路在实现这些逻辑功能中的应用，以及二进制数的运算规律。 通过这些实验，学生不仅能熟悉数字电路的基本操作，还能深化对逻辑门和组合逻辑电路的理解，为后续的数字系统设计和分析打下坚实基础。实验过程中，动手操作和理论分析相结合，有助于提升学生的实践能力和理论知识的综合运用。