JTAG协议概述与IEEE 1149.1标准介绍

资源摘要信息: "JTAG接口介绍" JTAG接口是一种被广泛使用的电子测试技术，最初由IEEE（电气和电子工程师协会）的联合测试行动小组（Joint Test Action Group，简称JTAG）开发，因此得名。IEEE 1149.1标准，通常被称作JTAG标准，是一种国际标准化的协议，它定义了一种用于对集成电路芯片进行内部测试的方法。 JTAG的主要目的是提供一个高效、标准的测试方式，以减少电子设备的设计、生产以及维修过程中所面临的测试难题。它可以对集成电路（IC）的内部进行直接访问，而不依赖于传统引脚级测试，这在复杂电路板和多层电路设计中尤其有用。JTAG接口的测试功能还包括边界扫描测试（Boundary-Scan Test），这是一种用来检查电路板上各个组件间连接的测试方法。 JTAG接口的核心组件包括以下几个部分： 1. Test Access Port (TAP) - 测试访问端口：这是一个五引脚接口，包括TDI（测试数据输入）、TDO（测试数据输出）、TCK（测试时钟输入）、TMS（测试模式选择）和TRST*（测试复位，可选）。 2. TAP控制器 - 测试访问端口控制器：负责根据TCK和TMS的信号来控制测试逻辑。 3. Instruction Register (IR) - 指令寄存器：存储测试指令，用于控制测试操作。 4. Data Register (DR) - 数据寄存器：在进行测试时，存储测试数据，可以是边界扫描寄存器或其他专用数据寄存器。 JTAG接口广泛应用于数字电路的测试、调试和编程。例如，在嵌入式系统的开发中，通过JTAG接口可以对处理器进行调试，包括单步执行、断点设置、寄存器内容的查看和修改、内存内容的查看和修改等。此外，JTAG接口还可以用于非易失性存储器（如Flash、EEPROM）的编程，FPGA的配置等。 IEEE 1149.1标准还包括一些扩展标准，比如IEEE 1149.4（模拟测试访问端口和边界扫描结构），IEEE 1149.6（交流耦合测试访问端口和边界扫描结构）等，这些扩展标准进一步扩展了JTAG接口的功能和适用范围。 随着集成电路技术的不断发展，JTAG接口也在不断地进化以适应新的需求。例如，在系统内测试（In-System Test, IST）、系统内编程（In-System Programming, ISP）以及系统内配置（In-System Configuration, ISC）等方面，JTAG接口都起着关键作用。它已经成为集成电路和电子系统设计与测试领域不可或缺的一部分。