双阈值VLSI测试功耗优化：结合电压调节与漏电流控制

"这篇论文研究了一种针对VLSI（超大规模集成电路）的低测试功耗优化方法，结合阈值门电路调节和漏电流优化，旨在降低静态功耗。通过算法找出电路的关键路径并去除伪路径，论文提出在关键路径上使用低阈值门电路，非关键路径上使用高阈值门电路，同时利用测试向量的无关位特性来调整测试策略，以减少漏电流。实验结果显示这种方法能有效降低功耗，适用于VLSI测试阶段的功耗管理。" 这篇研究论文探讨了VLSI测试过程中降低功耗的问题，尤其是在当前微电子技术快速发展，芯片集成度不断提高的背景下，测试功耗已经成为一个重要的考虑因素。论文中提出的双阈值VLSI低测试功耗方法是一种创新的解决方案，它融合了电压调节和漏电流优化两方面的技术。 首先，该方法通过电压调节来控制电路的静态功耗。电压调节主要是通过改变阈值门电路的阈值电压，使得电路在工作时能够以较低的电压运行，从而降低功耗。论文指出，通过算法精确地识别电路中的关键路径，这些路径对系统性能至关重要，因此在这些路径上设置低阈值门电路，可以有效地减少静态功耗。同时，非关键路径上的门电路则设置为高阈值，以保持整个系统的时序约束。 其次，论文还关注了漏电流优化。漏电流是导致静态功耗的主要原因之一，特别是在纳米尺度的集成电路中，漏电流问题尤为严重。通过对电路设计进行优化，如在非关键路径上使用高阈值门电路，可以减少不必要的漏电流，进一步降低功耗。 此外，论文还利用了测试向量的无关位特性来优化测试架构。在测试过程中，某些位的值对测试结果并无直接影响，这些无关位可以通过调整测试向量来减少，从而减少不必要的开关活动，降低漏电流。 实验结果证明了这种方法的有效性，它能够在满足系统性能需求的同时，显著降低测试阶段的功耗。这对于延长电池寿命、降低散热需求以及提高整体系统效率具有重要意义。此研究对于VLSI设计和测试领域提供了新的思路，有助于推动低功耗电子设备的发展。 关键词所涉及的领域包括：测试功耗优化、电压调节技术、漏电流管理以及测试向量的智能应用。这些概念和技术对于理解和改进现代集成电路的测试和功耗控制至关重要。