VLSI测试方法学：旁路寄存器与边界扫描寄存器设计解析

"这篇资料涉及了VLSI(超大规模集成电路)中的测试方法学和可测性设计，特别提到了旁路寄存器和边界扫描寄存器在VLSI测试中的应用。" 在VLSI设计中，测试是至关重要的环节，确保集成电路的功能正确性和可靠性。旁路寄存器和边界扫描寄存器是两种用于测试的关键结构。 旁路寄存器设计主要目标是不干扰片上系统的正常操作。这种寄存器通常配备专用的移位寄存器，可以在不影响系统逻辑运行的同时，提供测试路径。在给定的例子中，旁路寄存器的移位寄存器用于在测试期间传输数据，而不影响系统逻辑。这确保了测试的隔离性和准确性。 边界扫描寄存器(BSR)是边界扫描测试的重要组成部分，主要用于测试器件内部和外部的连接。每个BSR单元包含一个移位寄存器，有并行输入和输出，以及串行输入和输出，这些端口允许数据的并行和串行传输。BSR单元可以通过串行链连接，形成一个完整的边界扫描链，可以测试芯片内部和外部的电路。根据单元的数据端数量，BSR可以分为不同的类型，如只观察单元（不控制）和控制-观察单元，分别对应不同级别的测试需求和能力。 VLSI测试方法学和可测性设计是解决复杂集成电路测试挑战的关键。书中详细介绍了电路测试的基础理论，包括数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成技术，以及IDDQ测试、随机和伪随机测试原理等。此外，还涵盖了专用可测性设计、扫描和边界扫描理论，以及内建自测试（BIST）方法，这些都是现代集成电路设计中不可或缺的部分。 本书不仅是VLSI设计、制造、测试和应用领域的专业人员的参考书籍，也是高等院校相关专业学生的教材，旨在帮助读者理解和掌握集成电路测试的全面知识，从而能够有效地应对VLSI测试中的各种问题和挑战。 通过学习这些内容，读者将能够理解如何利用旁路寄存器和边界扫描寄存器进行有效的VLSI测试，以及如何在设计阶段考虑可测性，以提高测试效率和降低成本。这不仅对于硬件开发至关重要，也是整个电子产业质量保证的重要组成部分。